磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片,它表示()。A、试片厚度为15/100mmB、试片上的槽深为15/100mmC、试片厚度100μm,槽深15μmD、槽深100μm,槽宽15μm

磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片,它表示()。

  • A、试片厚度为15/100mm
  • B、试片上的槽深为15/100mm
  • C、试片厚度100μm,槽深15μm
  • D、槽深100μm,槽宽15μm

相关考题:

磁粉检测标准试片适用于连续磁化法,使用时,应将试片无人工缺陷的面朝()。

每天检测工作开始前,应用标准试片检验磁粉检测设备及磁粉和磁悬液的综合性能(系统灵敏度)。

磁粉检测结束时,应用标准试片再次验证检测灵敏度是否符合要求。

关于A型试片的叙述中,其数字15/100是表示(),()

磁粉检测时,使用A型或C型灵敏度试片,应将试片无人工缺陷的面朝外。

磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片,它表示()A、试片厚度为15/100mmB、试片上的槽深为15/100mmC、试片厚度100μm,槽深15μmD、槽深100μm,槽宽15μm

关于A型试片的叙述中,其数字15/100是表示试片厚度100μm,槽深15μm

我国使用的磁粉检测灵敏度试片有()。A、A1型、C型、D型、M1型B、A型、C型C、A型、C型、D型、M型D、A1型、M1型

下列关于使用A型灵敏度试片的叙述中,正确的是()A、可以估价磁场大小是否满足灵敏度要求;B、要把有槽的一侧作为外侧;C、试片上的标数15/100是表示槽的深度为100μm,宽度为15μm;D、施加磁粉的方法必须是连续法;E、A和D

使用A型灵敏度试片进行磁粉探伤时,应将试片()的一面与零件探伤面紧贴

磁粉探伤用标称为15/100的A型灵敏度试片,它表示()A、试片厚度为15/100mmB、槽深为15/100mmC、试片厚度100微米,槽深15微米D、槽宽15微米,槽深100微米

对灵敏度标准试片施加磁粉时,在任何场合都要使用连续法进行。

磁粉探伤中为什么要使用灵敏度试片?

磁粉探伤法中使用标称7/50的A型灵敏度试片,它表示()A、试片厚度为7/50mmB、试片上的槽深为7/50mmC、试片厚度50μm,槽深7μmD、槽深7μm,槽宽50μm

A1型灵敏度试片正确的使用为()。A、用来估价磁场的大小是否满足灵敏度的要求B、需将有槽的一面朝向工件贴于检测面上C、施加磁粉时必须使用连续法D、以上都是

A型标准试片使用叙述错误的是()。A、A型试片只使用于连续法B、需将有槽的一面朝向工件帖于检测面上C、A1-30/100试片低于A1-15/100试片的灵敏度等级D、施加磁悬液时可以不采用连续法

使用A型灵敏度试片进行磁粉探伤时,应将试片()的一面与零件探伤面紧贴31.涡流检测中的涂层测厚最常见的是利用()效应。

单选题磁粉探伤法中使用标称7/50的A型灵敏度试片,它表示()A试片厚度为7/50mmB试片上的槽深为7/50mmC试片厚度50μm,槽深7μmD槽深7μm,槽宽50μm

单选题A1型灵敏度试片正确的使用为()。A用来估价磁场的大小是否满足灵敏度的要求B需将有槽的一面朝向工件贴于检测面上C施加磁粉时必须使用连续法D以上都是

判断题关于A型试片的叙述中,其数字15/100是表示试片厚度100μm,槽深15μmA对B错

填空题关于A型试片的叙述中,其数字15/100是表示(),()

单选题下列关于使用A型灵敏度试片的叙述中,正确的是()A可以估价磁场大小是否满足灵敏度要求B要把有槽的一侧作为外侧C试片上的标数15/100是表示槽的深度为100μm,宽度为15μmD施加磁粉的方法必须是连续法EA和D

问答题磁粉探伤中为什么要使用灵敏度试片?

单选题磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片,它表示()A试片厚度为15/100mmB试片上的槽深为15/100mmC试片厚度100μm,槽深15μmD槽深100μm,槽宽15μm

填空题使用A型灵敏度试片进行磁粉探伤时,应将试片()的一面与零件探伤面紧贴

单选题磁粉探伤用标称为15/100的A型灵敏度试片,它表示()。A试片厚度为15/100mmB槽深为15/100mmC试片厚度100微米,槽深15微米D槽宽15微米,槽深100微米

单选题A型标准试片使用叙述错误的是()。AA型试片只使用于连续法B需将有槽的一面朝向工件帖于检测面上CA1-30/100试片低于A1-15/100试片的灵敏度等级D施加磁悬液时可以不采用连续法

判断题磁粉检测时,使用A型或C型灵敏度试片,应将试片无人工缺陷的面朝外。A对B错