为有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷,探伤仪应盲区小()。

为有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷,探伤仪应盲区小()。


相关考题:

双晶直探头由于延迟块的存在,避免了始脉冲引起的盲区问题,可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。

实际探伤中,探头频率(),脉冲宽度小,有利于区分相邻缺陷

盲区是超声波探伤系统重要的性能指标之一,因为它关系到()。A、检出平行于超声波束的缺陷B、检出位于锻件中心部位的小缺陷C、检出表面缺陷D、检出近表面的缺陷

为有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷,探伤仪应(),分辨率好。A、盲区小B、信噪比低C、灵敏度高D、精度低

盲区内缺陷一概不能发现。

磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述()是正确的A、磁化强度为一定时,缺陷高度小于1mm的形状相似的表面缺陷,其漏磁通与缺陷高度无关B、缺陷离试件表面越近,缺陷漏磁通越小C、在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时,缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响D、交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小E、当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响F、c,d和e都对

下列关于缺陷形成漏磁通的叙述,正确的是()A、缺陷离试件表面越近,形成的漏磁通越小B、在磁化状态、缺陷类型和大小为一定时,其漏磁通密度受缺陷方向影响C、交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时的漏磁通要小D、在磁场强度、缺陷类型和大小为一定时,其漏磁通密度受磁化方向影响;E、除A以外都对

液体渗透技术适合于检验非多孔性材料的:()A、近表面缺陷B、表面和近表面缺陷C、表面缺陷D、内部缺陷

液体渗透技术适应于检测非多孔性材料的()。A、近表面缺陷B、表面和近表面缺陷C、表面缺陷D、内部缺陷

旋转磁场是一种特殊的复合磁场,它可以检测工件中 ()。A、 纵向的表面和近表面缺陷B、 横向的表面和近表面缺陷C、 斜向的表面和近表面缺陷D、 任何方向的表面和近表面缺陷

涡流探伤法只能检测材料表面和近表面缺陷,是由于()A、涡流的扩散衰减B、交变电流的趋肤效应C、涡流探伤仪的功率小D、材料的磁导率不均匀

超声波探伤时采用较高的探测频率,可有利于:()。A、发现较小的缺陷B、区分开相邻的缺陷C、改善声束指向性D、发现较大的缺陷

用任何方法作超声波探伤时,为有效地检出缺陷,应使超声波束与缺陷最大表面平行。

为有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷,探伤仪应盲区小、分辨率好。

双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。

渗透探伤可以发现检测工件的表面和近表面缺陷。

单选题涡流探伤法只能检测材料表面和近表面缺陷,是由于()。A涡流的扩散衰减B交变电流的趋肤效应C涡流探伤仪的功率小D材料的磁导率不均匀

判断题双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。A对B错

多选题超声波探伤时采用较高的探测频率,可有利于:()。A发现较小的缺陷B区分开相邻的缺陷C改善声束指向性D发现较大的缺陷

单选题为有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷,探伤仪应(),分辨率好。A盲区小B信噪比低C灵敏度高D精度低

填空题为有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷,探伤仪应盲区小()。

单选题下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述()是正确的A磁化强度为一定时,缺陷高度小于1mm的形状相似的表面缺陷,其漏磁通与缺陷高度无关B缺陷离试件表面越近,缺陷漏磁通越小C在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时,缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响D交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小E当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响Fc,d和e都对

单选题盲区是超声波探伤系统重要的性能指标之一,因为它关系到()。A检出平行于超声波束的缺陷B检出位于锻件中心部位的小缺陷C检出表面缺陷D检出近表面的缺陷

填空题磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

单选题液体渗透技术适合于检验非多孔性材料的:()A近表面缺陷B表面和近表面缺陷C表面缺陷D内部缺陷

判断题为有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷,探伤仪应盲区小、分辨率好。A对B错