薄层荧光扫描法定量时斑点中组分的浓度与荧光强度遵循（）A、朗伯-比耳定律B、Kubelka- Munk曲线C、F=KCD、非线性关系E、塔板理论
薄层荧光扫描法定量时斑点中组分的浓度与荧光强度遵循（）
- A、朗伯-比耳定律
- B、Kubelka- Munk曲线
- C、F=KC
- D、非线性关系
- E、塔板理论
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下列有关比耳定律应用中问题的陈述,错误的是()。 A、比耳定律适用于一切浓度范围内有色溶液的测定B、应用比耳定律测定时的光波长不能随意改变C、比耳定律适用于复合光源D、比耳定律仅适用于有色物质的稀溶液E、高离子强度下的较浓有色物溶液的吸收曲线是弯曲的F、在较浓有色物溶液中比耳定律也适用G、比耳定律中溶液浓度与透光率强度呈正比
物质的荧光强度与荧光物质中油的质量浓度、激发光的强度、检测器的增益之间的关系是:F=KIρθ(F——荧光强度;K——检测器的增益,与仪器有关;I——激发光的强度,与仪器有关;ρ——荧光物质含油的质量浓度,mg／L;θ——原油的荧光效率)。() 此题为判断题(对，错)。
单选题在荧光分析法荧光定量的依据（）A荧光强度与浓度呈线性关系B激发光的强度与浓度呈线性关系C检测器的灵敏度D激发光源是否单一