H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度,其生产规格是500±50μ(微米)。测厚仪在11年2月10日曾由上级主管部门进行过校准。为了监测此测厚系统的性能,从3月1日开始,每天早晨正式工作前,先对一个厚度为500μ的标准片连续测量5次,坚持检测30天,记录测量的偏差值,共得到150个数据。从数据上看,这30天的状况是受控的,所有的点都落入控制限范围内。计算后得知,这150个偏差值数据的平均值X=0.94μ,标准差为S=1.42μ,经单样本T检验,未发现偏差值之均值与0有显著差异。总之,整个测量系统的准确性(Accuracy)、精确性(Precision)及稳定性(Stability)都是合格的。这里“此测量系统的准确性(Accuracy)是合格的”指的是()。A、这30天所有的数据点都落入控制限范围内B、X=0.94μ这个结果与公差限范围±50μ相比,小于10%,满足GRR要求C、S=1.42μ这个结果与公差限范围±50μ相比,小于10%,满足P/T要求D、对于150个数据进行单样本T检验,未发现偏差值之均值与0有显著差异

H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度,其生产规格是500±50μ(微米)。测厚仪在11年2月10日曾由上级主管部门进行过校准。为了监测此测厚系统的性能,从3月1日开始,每天早晨正式工作前,先对一个厚度为500μ的标准片连续测量5次,坚持检测30天,记录测量的偏差值,共得到150个数据。从数据上看,这30天的状况是受控的,所有的点都落入控制限范围内。计算后得知,这150个偏差值数据的平均值X=0.94μ,标准差为S=1.42μ,经单样本T检验,未发现偏差值之均值与0有显著差异。总之,整个测量系统的准确性(Accuracy)、精确性(Precision)及稳定性(Stability)都是合格的。这里“此测量系统的准确性(Accuracy)是合格的”指的是()。

  • A、这30天所有的数据点都落入控制限范围内
  • B、X=0.94μ这个结果与公差限范围±50μ相比,小于10%,满足GR&R要求
  • C、S=1.42μ这个结果与公差限范围±50μ相比,小于10%,满足P/T要求
  • D、对于150个数据进行单样本T检验,未发现偏差值之均值与0有显著差异

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()负责核发危险化学品及其包装物、容器生产企业的工业产品生产许可证,并依法对其产品质量实施监督,负责对进出口危险化学品及其包装实施检验A、质量监督检验检疫部门B、安全生产监督局C、公安部门

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芯片镀膜是某企业生产中关键的一步,为此必须对于镀膜厚度进行监控。通常将芯片固定在测试台后,由中心向外每45度画出射线将芯片分为等面积的8个扇形区域,在每个扇形内任意选取一点,测量出这8个点的厚度。现在生产已经相当稳定,为了维持它的稳定性,决定对于厚度的均值及波动都进行检测。这时,按国家标准的规定,控制图应该选用:()A、使用Xbar-R控制图B、使用Xbar-S控制图C、使用p图或np图D、使用C图或U图

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