下列哪些做法可以减小或消除实验的系统误差?()A、对测量用的温度计进行校正B、增加重复测量的次数C、做空白实验D、使用高纯试剂E、直接剔除大偏差的可疑值

下列哪些做法可以减小或消除实验的系统误差?()

  • A、对测量用的温度计进行校正
  • B、增加重复测量的次数
  • C、做空白实验
  • D、使用高纯试剂
  • E、直接剔除大偏差的可疑值

相关考题:

下面哪一种方法不属于减小系统误差的方法() A.做对照实验B.校正仪器C.做空白实验D.增加平行测定次数

下列方法可以减小分析测定中的偶然误差的是() A、对照实验B、空白实验C、仪器校正D、增加平行实验的次数

不能消除或减免系统误差的方法是() A、对照实验B、空白实验C、仪器校准D、增加平行试验的次数

减小偶然误差的方法是A、按照仪器的使用说明正确操作B、测量前对仪器进行校正C、空白试验D、回收实验E、增加平行测定次数

下列哪些做法中,可以减小或消除实验系统误差的是()。 A、对测量用的温度计进行校正B、增加重复测量的次数C、做空白实验D、使用高纯试剂E、直接剔除大偏差的可疑值

减小偶然误差的方法A.按照仪器的使用说明正确操作B.测量前对仪器进行校正C.空白试验D.回收实验E.增加平行测定次数

消除系统误差的方法有哪些()。 A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验。

由于化学试剂不纯或蒸馏水中有微量杂质而引起的测量误差可做空白实验校正。此题为判断题(对,错)。

减小偶然误差的方法是A.按照仪器的使用说明正确操作B.测量前对仪器进行校正C.空白试验D.回收实验E.增加平行测定次数

可用于减小测定过程中偶然误差的方法是( )。A.对照实验B.空白实验C.校正仪器D.采用优级试剂E.增加平行测定次数

为减少分析测定中的偶然误差,可采用A:增加平行试验次数B:做试剂空白C:样本空白D:校正仪器E:对照实验

系统误差产生在测量之前,具有确定性,它与测量次数有关,可以用增加测量次数的方法使之消除或减少。

下列哪些方法可以降低系统误差()A、实验前对各种仪器及器皿进行检定或校正B、增加测定次数,取其平均值C、做空白试验,扣除空白值D、选用公认的标准方法与所用方法比较,找出校正数据

常用的系统误差消除方法有加修正值、()、补偿法、空白实验、对照实验等。A、增加测量次数、减少测量时间B、试验法、验证法C、标准法、常规法D、替代法、交换法

减小检测分析误差常用的方法有选择合适的检测分析方法、选择合适的分析用水、对仪器设备检定校做回收试验、()等。A、减少测量次数、做满载试验对照试验B、增加测量次数、做满载试验平行试验C、增加测量次数、做空白实验对照实验D、减少测量次数、做空白试验平行试验

哪种对于减少系统误差的办法无用()。A、仪器校准B、空白实验C、增加测量次数D、标准物质对比分析

在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()A、增加平行试验的次数B、进行对照实验C、进行空白试验D、进行仪器校正

关于提高准确度的方法,以下描述正确的是()A、增加平行测定次数,可以减小系统误差B、作空白试验可以估算出试剂不纯等因素带来的误差C、只要提高测定值的精密度,就可以提高测量的准确度D、通过对仪器进行校正可减免偶然误差

下列可以减小或消除实验的系统误差做法是()。A、零点准确度校正B、增加重复测量的次数C、偏载调整D、秤量段测试E、直接剔除大偏差的可疑值

弹性模量实验中测量△x时,用加、减砝码各测一次的方法,目的是()A、消除随机误差B、增加测量次数C、无意义D、减小或消除一些系统误差

多选题下列可以减小或消除实验的系统误差做法是()。A零点准确度校正B增加重复测量的次数C偏载调整D秤量段测试E直接剔除大偏差的可疑值

多选题下列方法中,可用于消除或减小恒定系统误差的有()。A对测量结果进行修正B合理增加测量次数C采用替代法进行测量D采用交换法进行测量

单选题对由于外磁场引起的系统误差,可以采用()的方法加以消除。A对测量仪表进行校正B正负误差补偿法C替代法D增加重复测量次数

多选题下列哪些做法可以减小或消除实验的系统误差?()A对测量用的温度计进行校正B增加重复测量的次数C做空白实验D使用高纯试剂E直接剔除大偏差的可疑值

单选题实验员小王用温度计测量某恒温箱中心点的温度,他采取的以下措施中,可以减小随机误差影响的是()。A在不同位置选取多点进行测量,用多点测量的算数平均值作为测得值B根据温度计校准证书对测得值进行修正C增加中心点温度测量次数,已多次测得值的算数平均值作为最佳估价值D控制恒温箱所在实验室的环境温度波动范围

单选题为减少分析测定中的偶然误差,可采用()A增加平行试验次数B做试剂空白C样本空白D校正仪器E对照实验

多选题在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()A增加平行试验的次数B进行对照实验C进行空白试验D进行仪器校正