下列哪个不是系统设计的误差的原因()。A、评价标准主观性太强B、信息不对称带来误差C、组织文化带来的误差D、晕轮效应误差

下列哪个不是系统设计的误差的原因()。

  • A、评价标准主观性太强
  • B、信息不对称带来误差
  • C、组织文化带来的误差
  • D、晕轮效应误差

相关考题:

下列说法哪个是正确的A、系统误差是可测误差B、系统误差是随机因素引起的C、系统误差是与检验条件无关的D、系统误差是不可测误差E、系统误差是不可减小的

下列选项中是根据误差产生的原因分类的是 ( )。A.系统误差B.随机误差C.粗大误差D.方法误差

水平角观测中,下列哪个不是系统误差?() A.视准轴误差B.横轴误差C.竖轴误差D.照准误差

Westgard质控处理规则的应用可以找出下列何种误差 A.系统误差B.随机误差C.系统误差和随机误差D.偶然误差E.以上都不是

钢尺的尺长误差对距离测量的影响属于()。A、偶然误差B、系统误差C、偶然误差也可能是系统误差D、既不是偶然误差也不是系统误差

下面哪个误差不是以误差数值来表示的()。A、系统误差B、绝对误差C、相对误差D、相对百分误差

下列哪个选项不是完整的CRM系统向前延伸所开展的活动()。A、网络金融交割B、产品设计C、网络银行D、电话银行

下列不是系统误差的是()A、方法误差B、随机误差C、试剂误差D、仪器误差E、操作误差

下列哪个不是随机误差()A、定位误差B、夹紧误差C、热变形误差D、多次调整的误差

下列误差中,()不是原理误差。A、工艺系统的制造精度B、工艺系统的受力变形C、数控系统的插补误差D、数控系统尺寸园/圆整误差E、数控系统的拟合误差

下列误差中,()不是原理误差。A、工艺系统的制造精度B、工艺系统的受力变形C、数控系统的查补误差D、数控系统尺寸圆整误差E、数控系统的拟合误差

下列误差中,()不是原理误差。A、工艺系统的制造精度B、工艺系统的受力变形C、数控系统的查补误差D、数控系统尺寸圆整误差

下列关于系统误差产生原因说法不正确的是()。A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起D、在滴定分析中,滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差

下列选项中是根据误差产生的原因分类的是()。A、系统误差B、随机误差C、粗大误差D、方法误差

钢尺的尺长误差对距离测量产生的影响属于()。A、偶然误差B、系统误差C、偶然误差也可能是系统误差D、既不是偶然误差也不是系统误差

由于钢尺的尺长误差对距离测量所造成的误差是()。A、偶然误差B、系统误差C、可能是偶然误差也可能是系统误差D、既不是偶然误差也不是系统误差

产生伪影的原因有()A、成像系统的测量误差B、X射线的原因C、受检体的原因D、成像装置原因E、以上都不是

下列不是产生死区误差的主要原因的是()。A、电气系统和执行元件的启动死区B、传动机构中的间隙C、导轨运动副间的摩擦力D、系统动态误差

系统误差也称可测误差,是检验操作过程中由某一固定原因引起的误差,不是产生系统误差的原因是()A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、过失误差

由于仪表的原因造成误差是系统误差,下列()因素不是造成仪表误差的原因。A、各种刻度尺热胀冷缩B、表盘的刻度不准确C、仪表本身的精度比较小D、实验条件和使用方法不同

下列哪个不是评价主体误差的原因()。A、晕轮效应误差B、中心化倾向误差C、首因效应和近因效应误差D、评价标准主观性太强

多选题产生伪影的原因有()A成像系统的测量误差BX射线的原因C受检体的原因D成像装置原因E以上都不是

单选题下列不是产生死区误差的主要原因的是()。A电气系统和执行元件的启动死区B传动机构中的间隙C导轨运动副间的摩擦力D系统动态误差

单选题系统误差也称可测误差,是检验操作过程中由某一固定原因引起的误差,不是产生系统误差的原因是()A方法误差B仪器误差C试剂误差D过失误差

单选题系统分析说明书不是哪个阶段的依据()。A系统设计依据B系统规划依据C系统评价的依据D程序设计依据

单选题下列哪个不是系统设计的误差的原因()。A评价标准主观性太强B信息不对称带来误差C组织文化带来的误差D晕轮效应误差

单选题下列哪个不是评价主体误差的原因()。A晕轮效应误差B中心化倾向误差C首因效应和近因效应误差D评价标准主观性太强