四环素牙的色素沉着是沿A、牙本质小管进行的B、釉柱进行的C、牙本质生长线进行的D、釉质生长线进行的E、釉牙本质界进行的
牙本质短时生长线之间的距离约为A.1μmB.2μmC.3μmD.4μmE.5μm
牙本质生长线之间的距离约为A、1μmB、2μmC、3μmD、3.5μmE、4～8μm
观察四环素牙的磨片，最常见色素沉着于（ ）A、釉柱B、釉质横纹C、釉质生长线D、牙本质小管E、牙本质生长线
钙化程度最高的牙本质是A、球间牙本质B、生长线C、前期牙本质D、管周牙本质E、管间牙本质
在牙本质中钙化程度最高者为 A、管周牙本质B、管间牙本质C、前期牙本质D、球间牙本质E、生长线
有限长线声源的噪声预测，可依据预测点与线声源的距离和声源长度之间的关系，分别按( )进行计算。A. 无限长线声源 B. 点声源c. 有限长线声源
牙本质生长线之间的距离约为A.3．5μmB.4～8μmC.3μmD.2μmE.1μm
