对“WS”的描述，错误的是A．是威纳频谱英文的缩写B．是测量照片颗粒性的一种方法C．在影像学中以空间频率为变量的函数D．可分析出形成X线照片斑点原因及所占比例E．空间频率增加，量子斑点与照片斑点比例均增加
对“WS”的描述，错误的是
A．是威纳频谱英文的缩写
B．是测量照片颗粒性的一种方法
C．在影像学中以空间频率为变量的函数
D．可分析出形成X线照片斑点原因及所占比例
E．空间频率增加，量子斑点与照片斑点比例均增加
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关于X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度
关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是A．胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一B．胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性C．表示颗粒性的量度值为颗粒度D．颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高E．颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关
对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A．主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B．客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C．常用的检测方法有RMS的测量D．常用的检测方法有维纳频谱的测量E．MTF用来测量颗粒度
关于影像质量控制标准的描述,错误的是A.以诊断学要求为依据B.以影像技术要求为依据S 关于影像质量控制标准的描述，错误的是A.以诊断学要求为依据B.以影像技术要求为依据C.以能满足诊断学要求的技术条件为保证D.同时考虑减少影像检查的辐射剂量E.应提供重要的影像细节
关于照片影像质量客观评价的叙述，错误的是（）。A、以物理量进行的评价为客观评价B、可通过特性曲线进行测试C、MTF是评价像质的好方法D、WS是调制传递函数的缩写E、RMS是照片颗粒度均方根值的缩写
对“WS”的描述，错误的是（）A、是威纳频谱英文的缩写B、是测量照片颗粒性的一种方法C、在影像学中以空间频率为变量的函数D、可分析出形成X线照片斑点原因及所占比例E、空间频率增加，量子斑点与照片斑点比例均增加
关于维纳频谱的叙述，错误的是（ ）A、维纳频谱即Wienerspectrum(WS)B、ΔD(x)的自相关函数的传氏变换为WSC、用WS分析形成X线照片斑点的原因D、维纳频谱可以确定不同频率的RMSE、维纳频谱也称量子检出效率
单选题关于维纳频谱的叙述，错误的是（ ）A维纳频谱即Wienerspectrum(WS)BΔD(x)的自相关函数的传氏变换为WSC用WS分析形成X线照片斑点的原因D维纳频谱可以确定不同频率的RMSE维纳频谱也称量子检出效率
单选题关于照片影像质量客观评价的叙述，错误的是（）。A以物理量进行的评价为客观评价B可通过特性曲线进行测试CMTF是评价像质的好方法DWS是调制传递函数的缩写ERMS是照片颗粒度均方根值的缩写
单选题对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）A主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C常用的检测方法有RMS的测量D常用的检测方法有维纳频谱的测量EMTF用米测量颗粒度
单选题对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（ ）。A主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C常用的检测方法有RMS的测量D常用的检测方法有维纳频谱的测量EMTF用来测量颗粒度
单选题对“WS”的描述，错误的是（ ）。A是威纳频谱英文的缩写B是测量照片颗粒性的一种方法C在影像学中以空间频率为变量的函数D可分析出形成X线照片斑点原因及所占比例E空间频率增加，量子斑点与照片斑点比例均增加