钨靶X线机，产生特征X线的最低管电压是A、35kVpB、50kVpC、70kVpD、85kVpE、90kVp
钨靶X线机，产生特征X线的最低管电压是
A、35kVp
B、50kVp
C、70kVp
D、85kVp
E、90kVp
相关考题：
有关特征X线的解释，错误的是A.是高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B.特征X线的质与高速电子的能量有关C.特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D.靶物质原子序数较高特性X线的能量大E.70kVp以下不产生钨的K系特征X线
有关特征X线的解释，错误的是( )。A.特征X线是高速电子与靶物质原子的轨道电子相互作用的结果B.特征X线产生的X线的质与高速电子的能量有关C.特征X线的波长，由跃迁的电子能量差所决定D.靶物质原子序数较高时，特征X线的能量就大E.管电压70kVp以下，不产生K系特征X线
下列与X线的质和量有关的叙述中，错误的是( )。A.X线强度受管电压、管电流、靶物质及高压波形的影响B.X线强度与管电压的平方成正比C.管电流越大，产生的X线光子数就越多D.对特征X线来说，靶物质的原子序数决定产生特征X线的量E.整流后的脉动电压越接近峰值，其X线强度越大
能量80keV的电子入射到X线管的钨靶上产生的结果是( )A.连续X线的最大能量是80keVB.特征X线的最大能量是80keVC.产生的X线绝大部分是特征X线D.仅有1%的电子能量以热量的形式沉积在钨靶中E.X线管产生X线的平均能量为80keV
高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。有关特征X线的解释，错误的是（）A、高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B、特征X线的质取决于高速电子的能量C、特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D、靶物质原子序数较高特性X线的能量大E、70kVp以下钨不产生K系特征X线
对钼靶X线管，叙述正确的是（ ）A、钼靶产生X线的效率比钨靶高B、软组织摄片时，主要利用钼产生的连续X线C、相同灯丝加热电流和相同管电压下，钼靶管比钨靶管获得管电流小D、钼靶X线管的极间距离比钨靶管的小E、钼靶产生的X线主要对密度高
多选题有关乳腺X线摄影的内容正确的是（）Aμ与z的四次方成正比B当管电压在25kv时脂肪与腺体组织之间的对比度是管电压在35kv时的5倍C在40kv下，钼靶能产生K系列特征辐射D而钨靶只产生L系列特征辐射EL系列特征辐射的平均能量为20kev，这种X线的能量较低。
单选题关于特征X线的叙述，正确的是（ ）。A电压升高特征放射能量增加B管电压低于某激发电压，可以产生特征X线CX射线谱是连续能量谱D外层轨道电子跃迁产生X线为特征X线E管电压升高特征射线的百分比减少
单选题高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。有关特征X线的解释，错误的是（）A高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B特征X线的质取决于高速电子的能量C特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D靶物质原子序数较高特性X线的能量大E70kVp以下钨不产生K系特征X线
多选题关于特征放射的叙述，正确的是（ ）。A特征放射又称标识放射B是高速电子击脱靶物质原子的外层轨道电子产生的C它的X线光子能量与冲击靶物质的高速电子能量有关D只服从于靶物质的原子特性E管电压在70kVp以上钨靶才能产生特征X线
单选题对钼靶X线管，叙述正确的是（ ）A钼靶产生X线的效率比钨靶高B软组织摄片时，主要利用钼产生的连续X线C相同灯丝加热电流和相同管电压下，钼靶管比钨靶管获得管电流小D钼靶X线管的极间距离比钨靶管的小E钼靶产生的X线主要对密度高