按照（）的要求，确定技术状态基线及其技术状态项，编制技术状态管理计划，实施技术状态标识、控制、记实、审核。A、GJB450B、GJB3206C、GJB2786D、GJB3872
按照（）的要求，确定技术状态基线及其技术状态项，编制技术状态管理计划，实施技术状态标识、控制、记实、审核。
- A、GJB450
- B、GJB3206
- C、GJB2786
- D、GJB3872
相关考题：
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C．状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，（ ）的控制线延长能作为控制用的控制图。A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B.状态II，统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态 C.状态III，统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。下列推断中，正确的是（ ）。A.过程处于统计控制状态和技术控制状态B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态
根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为（ ）。A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态B.状态II，统计控制状态未达到，技术控制状态达到C.状态III，统计控制状态达到，技术控制状态未达到D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态E.状态V，统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到
在过程控制中，最理想的状态是（ ）。A.统计控制状态达到，技术控制状态未达到B.统计控制状态未达到，技术控制状态达到C.统计控制状态与技术控制状态均达到D.统计控制状态与技术控制状态均未达到
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数CpE.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。根据上述计算结果，判断过程（）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态
在确定设计和开发的各个阶段和控制时，组织应考虑下列哪些内容（）A、按照GJB190的要求对产品进行特性分析；B、进行风险分析和评估，形成风险清单，确定风险接受准则和风险控制措施；C、编制质量计划（或质量保证大纲）；D、落实技术状态管理计划的措施，编制技术状态文件清单
多选题在确定设计和开发的各个阶段和控制时，组织应考虑下列哪些内容（）A按照GJB190的要求对产品进行特性分析；B进行风险分析和评估，形成风险清单，确定风险接受准则和风险控制措施；C编制质量计划（或质量保证大纲）；D落实技术状态管理计划的措施，编制技术状态文件清单
多选题根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为（ ）。A状态Ⅰ，统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态B状态Ⅱ，统计控制状态未达到，技术控制状态达到C状态Ⅲ，统计控制状态达到，技术控制状态未达到D状态Ⅳ，统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态E状态Ⅴ，统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到
不定项题(六)加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk ≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm根据以上材料，回答{TSE}题：{TS}下列论述正确的是( )。A过程处于统计控制状态和技术控制状态B过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D过程未处于统计控制状态和技术控制状态