在“EL”测试过程中，组件出现虚焊不良，现场IPQC判断为“OK”，组件转为良品
在“EL”测试过程中，组件出现虚焊不良，现场IPQC判断为“OK”，组件转为良品
相关考题：
典型的V－模型包括四种测试级别,分别是() A.组件测试、系统测试、验收测试、维护测试B.组件测试、回归测试、系统测试、验收测试C.组件测试、集成测试、系统测试、验收测试D.组件测试、模块测试、系统测试、验收测试
典型的V-模型包括四种测试级别，分别是（）A、组件测试、系统测试、验收测试、维护测试B、组件测试、回归测试、系统测试、验收测试C、组件测试、集成测试、系统测试、验收测试D、组件测试、模块测试、系统测试、验收测试
以下描述中正确的一项是：（）A、在制程检验中：日本客户及常规客户对于焊带偏离的不良检验标准是相同的B、产线人员发现不良组件后，根据组件常规出货检验指导书检验标准进行判定C、如发现不良需用红色标识卡写出组件序列号、不良原因以及不良位置后隔离待评审D、现场发现不良如自己无法判定的，需知会直接上级领导进行评审判定
以下哪些是关于返修品不良物料正确的说法（）A、生产部经IPQC判定的不良，经过相关部门签字可以退到不良品仓B、良品仓转不良品仓，不经过任何质检或签字，直接调拔到不良品仓C、生产部退下的不良物料状态有：作业不良、来料不良、报废D、良品仓转不良品仓不一定要具备相关单据进行调拔如：ECN、内部联络单等
单选题典型的V-模型包括四种测试级别，分别是（）A组件测试、系统测试、验收测试、维护测试B组件测试、回归测试、系统测试、验收测试C组件测试、集成测试、系统测试、验收测试D组件测试、模块测试、系统测试、验收测试