干扰试验的确证目的是()A、进一步确证无干扰筛选的浓度是否真正有干扰或增强作用B、进一步明确干扰浓度C、进一步明确增强浓度

干扰试验的确证目的是()

  • A、进一步确证无干扰筛选的浓度是否真正有干扰或增强作用
  • B、进一步明确干扰浓度
  • C、进一步明确增强浓度

相关考题:

干扰试验的干扰物同一浓度评估的误差是A.随机误差B.比例误差C.恒定误差D.系统误差E.总误差

在EDTA滴定中,提高选择性的方法有()。 A、控制酸度,降低干扰离子与EDTA配离子的稳定性B、提高酸度,降低干扰离子的浓度C、配位掩蔽法降低干扰离子的浓度D、氧化还原掩蔽法降低干扰离子的浓度E、沉淀掩蔽法降低干扰离子的浓度

白及、大蓟、小蓟止血作用机理是:() A、促进机体产生抗体B、增强吞噬细胞的吞噬功能C、提高血清干扰素浓度D、促进淋巴细胞转化E、B+C

干扰试验常见的干扰物质的来源是分析物浓度。A对B错

干扰试验的目的是用来衡量候选方法的准确度,在加入一定浓度的干扰物条件下,形成的是()。

在分析分离过程中常有干扰物质的存在,利用()可将干扰离子浓度减小,甚至使干扰离子浓度低至不足以参加反应的量极微,就可以消除该离子的干扰。A、掩蔽剂B、解蔽剂C、隐蔽剂

保护装置箱体必须经试验确证()是保护装置本体抗干扰措施之一。

扰动试验的目的是观察调节系统对各种干扰作用的消除能力,以便进一步修正调节器的各整定参数。

保护装置或继电器的抗干扰试验项目有:A、抗高频干扰试验B、抗低频干扰试验C、抗辐射电磁干扰试验

影响铁、锰原子吸收法准确度的主要干扰是(),当硅的浓度大于()时,对铁的测定产生();当硅的浓度大于()时,对锰的测定也出现();这些干扰的程度随着硅的浓度()而()。如试样中存在200mg/L()时,上述干扰可以消除。

离子选择性电极的电极电位与()成线性。A、待测离子浓度B、干扰离子浓度C、待测离子浓度的对数D、干扰离子浓度的对数

火焰光度分析中,标准曲线在高浓度时向下弯曲的原因是()A、 自吸收干扰B、 电离干扰C、 光谱干扰D、 阴离子干扰

干扰试验的干扰物同一浓度评估的误差是()A、随机误差B、比例误差C、恒定误差D、系统误差E、总误差

利用沉淀反应降低干扰离子浓度以消除干扰的方法称为()。

利用络合反应降低干扰物质的浓度,来消除干扰的方法,称为()。A、络合滴定法B、络合掩蔽法C、干扰封闭法D、选择滴定法

用ICP-AES法测定水中金属元素时,干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与干扰元素浓度的比值。

干扰试验常见的干扰物质的来源是分析物浓度。

在吸附分离技术中,无机盐对吸附的影响有()。A、低浓度无机盐干扰吸附B、低浓度无机盐不会干扰吸附C、高浓度无机盐有利于吸附D、高浓度无机盐有不利于吸附

用ICP-AES法测定水中金属元素时,干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与于扰元素浓度的比值。

保护装置或继电器的抗干扰试验项目有()。A、抗高频干扰试验B、抗低频干扰试验C、抗辐射电磁干扰试验D、抗工频干扰试验

填空题干扰试验的目的是用来衡量候选方法的准确度,在加入一定浓度的干扰物条件下,形成的是()。

单选题在分析分离过程中常有干扰物质的存在,利用()可将干扰离子浓度减小,甚至使干扰离子浓度低至不足以参加反应的量极微,就可以消除该离子的干扰。A掩蔽剂B解蔽剂C隐蔽剂

单选题干扰试验的干扰物同一浓度评估的误差是()A随机误差B比例误差C恒定误差D系统误差E总误差

判断题用ICP-AES法测定水中金属元素时,干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与于扰元素浓度的比值。A对B错

单选题火焰光度分析中,标准曲线在高浓度时向下弯曲的原因是()A 自吸收干扰B 电离干扰C 光谱干扰D 阴离子干扰

判断题干扰试验常见的干扰物质的来源是分析物浓度。A对B错

多选题在吸附分离技术中,无机盐对吸附的影响有()。A低浓度无机盐干扰吸附B低浓度无机盐不会干扰吸附C高浓度无机盐有利于吸附D高浓度无机盐有不利于吸附