可见光A.波长200~400 NMB.光谱性质为发射光谱C.可用于无效或低效晶型杂质检查D.波长400—760 NME.波长300~600 NM

可见光

A.波长200~400 NM

B.光谱性质为发射光谱

C.可用于无效或低效晶型杂质检查

D.波长400—760 NM

E.波长300~600 NM


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紫外A.波长200~400 NMB.光谱性质为发射光谱C.可用于无效或低效晶型杂质检查D.波长400—760 NME.波长300~600 NM

红外A.波长200~400 NMB.光谱性质为发射光谱C.可用于无效或低效晶型杂质检查D.波长400—760 NME.波长300~600 NM

荧光A.波长200~400 NMB.光谱性质为发射光谱C.可用于无效或低效晶型杂质检查D.波长400—760 NME.波长300~600 NM

A.波长200~400nmB.光谱性质为发射光谱C.可用于无效或低效晶型杂质检查D.波长400~760nmE.波长300~600nm可见光为

A.波长200~400nmB.光谱性质为发射光谱C.可用于无效或低效晶型杂质检查D.波长400~760nmE.波长300~600nm荧光为

A.波长200~400nmB.光谱性质为发射光谱C.可用于无效或低效晶型杂质检查D.波长400~760nmE.波长300~600nm红外光为

A.波长200~400nmB.光谱性质为发射光谱C.可用于无效或低效晶型杂质检查D.波长400~760nmE.波长300~600nm紫外光为

紫外可见光谱检测波长的范围是()A.400 ~ 800 nmB.200 ~ 800 nmC.200 ~ 400 nmD.10 ~ 1000 nm

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