电离室探测射线依据的是()A、电离作用B、荧光现象C、感光效应D、康普顿散射E、光电效应

电离室探测射线依据的是()

  • A、电离作用
  • B、荧光现象
  • C、感光效应
  • D、康普顿散射
  • E、光电效应

相关考题:

气体闪烁探测器探测射线的依据是A、电离作用B、荧光现象C、感光效应D、康普顿散射E、光电效应

多丝正比电离室探测器是A、直接探测器B、间接探测器C、模拟探测器D、平板探测器E、动态探测器

电离室探测射线依据的是A、电离作用B、荧光现象C、感光效应D、康普顿散射E、光电效应

中子个人剂量监测中常用的方法是A.电离室B.闪烁探测器C.半导体探测器 中子个人剂量监测中常用的方法是A.电离室B.闪烁探测器C.半导体探测器D.CaS02热释光剂量元件E.a径迹(片)

半导体探测器与空气电离室比较突出优点是()A、具有很高的灵敏度B、不易受环境温度影响C、对中低能X射线的测量较准确D、不会产生“暗”电流E、探头不易受损

半导体探测器又称为()A、气体电离室B、液体电离室C、固体电离室D、晶体电离室E、空穴电离室

需通过光敏元件成像的探测器是()A、空气电离室B、CCD探测器C、多丝正比电离室D、半导体狭缝扫描仪E、直接转换平板探测器

工业核仪表常用射线探测器有()A、闪烁探测器B、电离室探测器C、盖革计数管

放射性计量秤主要由()等几部分组成。A、r射线放射源B、皮带支架C、射线探测器-长电离室D、主机系统

以下哪一种探测器,不是利用射线在空气中电离效应原理()A、电离室B、正比计数器C、盖革-弥勒记数管D、闪烁探测器

工业核仪表中常用的射线探测器有()。A、闪烁探测器B、霍尔探测器C、光电倍增管D、电离室探测器

工业核仪表常用的射线探测器不包括下列哪类仪表()。A、闪烁探测器B、电离室探测器C、光电隔离器

YJ17烟支重量控制系统中当烟条密度变化时,会引起进入电离室的()变化,从而改变电离室内气体的电离程度,使电离室输出电流发生变化。A、β射线强度B、γ射线强度C、X射线强度D、铀射线强度

工业核仪表常用射线探测器有()A、闪烁探测器B、电离室探测器C、盖革计数管D、烟雾探测器

单选题电离室探测射线依据的是()。A电离作用B荧光现象C感光效应D康普顿散射E光电效应

单选题需通过光敏元件成像的探测器是()A空气电离室BCCD探测器C多丝正比电离室D半导体狭缝扫描仪E直接转换平板探测器

单选题以下哪一种探测器,不是利用射线在空气中电离效应原理()A电离室B正比计数器C盖革-弥勒记数管D闪烁探测器

单选题多丝正比电离室探测器是()A直接探测器B间接探测器C模拟探测器D平板探测器E动态探测器

单选题工业核仪表常用的射线探测器不包括下列哪类仪表()。A闪烁探测器B电离室探测器C光电隔离器