CSK一1A试块矽50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。()
用哪种探头可提高轴向分辨率A．高频探头B．低频探头C．较大的探头D．低阻尼探头E．高阻尼探头
在厚焊缝单探头探伤中，垂直焊缝的表面的光滑的裂纹可能：（）A、用45°斜探头探出B、用直探头探出C、用任何探头探出D、反射讯号很小而导致漏检
管座角焊缝超声检测时，应采取的检测方式是（）。A、 在接管内表面用直探头检测B、 在接管内表面用斜探头检测C、 在容器外表面用斜探头检测D、 以上一种或几种方式组合应用
某探头的种类标识为X，它的种类是用折射角表示的（）A、直探头B、斜探头C、分割探头D、水浸探头
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头
对THDS-A探测系统直流探头校零的描述错误的是（）A、直流探头在未过车前，探头相对挡板进行自动校零B、直流探头在过车时，校零被关闭C、校零在没有过车时和过车时都在进行D、可以手动关闭校零
THDS-A红外轴温探测系统校零板的作用是（）A、对热靶温度进行校零B、对光子探头的光子器件温度进行校零C、对制热敏探头的挡板温度进行校零D、对热敏探头输出电压进行校零
某探头的种类标识为K，它的种类是用K值表示的（）A、直探头B、斜探头C、分割探头D、水浸探头
CSK-1A试块φ50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。
WGT-3试块可用于测定（）A、斜探头距离幅度特性B、楔内回波幅度C、分辨率D、A与B都对
CSK-1A试块直径50毫米有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。
手工超声波探伤用探头的折射角误差：横波斜探头（β＞450时），△β≤1.50。
单选题THDS-A红外轴温探测系统校零板的作用是（）A对热靶温度进行校零B对光子探头的光子器件温度进行校零C对制热敏探头的挡板温度进行校零D对热敏探头输出电压进行校零
单选题对THDS-A探测系统直流探头校零的描述错误的是（）A直流探头在未过车前，探头相对挡板进行自动校零B直流探头在过车时，校零被关闭C校零在没有过车时和过车时都在进行D可以手动关闭校零
单选题接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头
单选题斜探头分辨率的校定是用（）。A用φ2mm平底孔Bφ40，φ44，φ50三个同心圆弧面CR50和R100圆弧D窄槽处标有85，91，100mm
单选题某探头的种类标识为X，它的种类是用折射角表示的（）A直探头B斜探头C分割探头D水浸探头
单选题JB/T4730.3－2005《承压设备无损检测》标准规定，对不锈钢堆焊层超声检测可采用的探头类型为（）。A 直探头、纵波斜探头、横波斜探头B 双晶探头、纵波斜探头、横波斜探头C 双晶探头、直探头、纵波斜探头、纵波双晶斜探头D 双晶探头、直探头、横波斜探头
单选题HTK型红外线探测站当前探头自检信息，包括（）、探头板恢复等。A探头校零错误B探头校零恢复C探头板错误DA、B、C
单选题某探头的种类标识为K，它的种类是用K值表示的（）A直探头B斜探头C分割探头D水浸探头
单选题用哪种探头可提高轴向分辨率？（ ）A高频探头B低频探头C较大的探头D低阻尼探头E高阻尼探头
单选题在厚焊缝单探头探伤中，垂直焊缝的表面的光滑的裂纹可能：（）A用45°斜探头探出B用直探头探出C用任何探头探出D反射讯号很小而导致漏检
单选题管座角焊缝超声检测时，应采取的检测方式是（）。A 在接管内表面用直探头检测B 在接管内表面用斜探头检测C 在容器外表面用斜探头检测D 以上一种或几种方式组合应用