单选题iLOCK系统VIIB板中的VCC代表()测试孔,GND代表()测试孔。A直流+,直流-B直流-,直流+C交流+,交流-D交流-,交流+

单选题
iLOCK系统VIIB板中的VCC代表()测试孔,GND代表()测试孔。
A

直流+,直流-

B

直流-,直流+

C

交流+,交流-

D

交流-,交流+


参考解析

解析: 暂无解析

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检测钢筋笼长度时,一般的检测步骤顺序是( )。 A.定位→成孔→放管→测试→记录→封孔B.定位→成孔→记录→测试→放管→封孔C.定位→放管→测试→记录→成孔→封孔D.记录→定位→成孔→放管→测试→封孔

手的感觉测试是()。 A、Moberg拾物试验B、Tinel征检查C、9孔插板试验D、Jebson手功能测试E、Purdue钉板测试

()是整个iLOCK系统的核心。A、IPSB、VLEC、VPSD、VIIB

iLOCK系统VIIB板中的VCC代表()测试孔,GND代表()测试孔。A、直流+,直流-B、直流-,直流+C、交流+,交流-D、交流-,交流+

光线传感器的红线接(),黑线接(),另外一个针脚接()。A、VCC;D或S;GNDB、GND;VCC;D或SC、D或S;GND;VCCD、VCC;GND;D或S

超声波传感器有()个针脚,分别是()。A、2;VCC、GNDB、3;VCC、GND、EchoC、3;VCC、GND、TrigD、4;VCC、GND、Trig、Echo

自控图纸中,FT代表孔板。

FT代表孔板。

ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试接收盒输入电压,其测试位置为()。A、衰耗盒轨入测试孔B、衰耗盒轨出1测试孔C、衰耗盒轨出2测试孔D、衰耗盒GJ测试孔

()板是整个联锁处理子系统的核心,包括通过I/O选址读取输入/输出信息、进行联锁运算、与MMI、SDM、其它iLOCK系统通信等。A、VPSB、IPSC、VLED、VIIB

iLOCK系统VIIB板为iLOCK系统的两个CPU分别采集提供相同的接口。

iLOCK系统每块VIIB板有16个输入端口,每个输入端口对应一个指示灯。

iLOCK系统中的VPS板、VIB板、VIIB板、VOB板、VOOB板以及安全输出板中的AOCD元器件,均像安全型继电器一样具有“固有故障-安全”特性。

ZPW-2000轨道电路,测试衰耗盒功出测试孔时,其低频频率为10.3Hz时,其代表()码。A、L3B、L2C、LD、LU

孔径变形法测试准备中,测试钻头钻测试孔,孔深为50cm,要求与大孔同轴,允许偏差为2mm。

在系统测试中,()由目标用户代表进行,确保符合开发协议的要求。A、性能测试B、内容测试C、界面测试D、数据测试

在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时,测试衰耗盒功出测试孔时,其低频频率为16.9Hz时,其代表()码。A、UB、HUC、HD、UU

VIIB板为ilock系统的两个()分别采集同工相同的接口。

在收费软件系统测试中,为了验收测试AUT,需要确定哪几种角色?()A、项目主管、用户代表、测试顾问、供货商代表B、项目主管、用户代表、测试人员、供货商顾问C、项目主管、用户测试代表、测试顾问、供货商代表D、项目主管、用户测试代表、测试人员、供货商代表

()板是iLOCK系统的安全型监视机构,独立于VLE板面对系统进行全面的安全检查。A、IPSB、VLEC、VPSD、VIIB

()板为iLOCK系统提供采集接口,使iLOCK系统能安全地检测输入端口状态。A、VIBB、IPSC、VLED、VIIB

集成电路型及微机型保护在现场试验过程中允许拔出插板测试,但只允许用厂家提供的测试孔或测试板进行测试工作。

判断题iLOCK系统中的VPS板、VIB板、VIIB板、VOB板、VOOB板以及安全输出板中的AOCD元器件,均像安全型继电器一样具有“固有故障-安全”特性。A对B错

判断题孔径变形法测试准备中,测试钻头钻测试孔,孔深为50cm,要求与大孔同轴,允许偏差为2mm。A对B错

判断题iLOCK系统每块VIIB板有16个输入端口,每个输入端口对应一个指示灯。A对B错

填空题VIIB板为ilock系统的两个()分别采集同工相同的接口。

判断题iLOCK系统VIIB板为iLOCK系统的两个CPU分别采集提供相同的接口。A对B错