当缺陷波与底波共存时,可认为是密集缺陷或面积较大的其它缺陷。() 此题为判断题(对，错)。
对球墨铸铁探伤时，可采用下列哪种方法判断铸件质量（）A、底面回波次数B、杂波高度C、缺陷波幅度D、缺陷波占宽
一般折流挡板的形状为（）A、圆形和圆缺形B、圆缺形和圆盘形C、椭圆形和圆缺形D、圆盘形和椭圆形
斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波，底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在
除缺陷的大小和声程外，影响缺陷波高的缺陷自身因素有（）A、缺陷取向B、缺陷形状C、缺陷类型D、缺陷的表面粗糙度
强度高的炉底形状为（）。A、球缺形B、截锥形C、三角形D、方形
对接焊接接头斜探头检测时，与主声束垂直的缺陷，缺陷表面状态对回波高度的影响是（）。A、 缺陷回波波高随粗糙度增大而下降B、 无影响C、 缺陷回波波高随粗糙度增大而增大D、 以上都对
与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在
斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波
直探头垂直入射时发现工件150mm声程处一缺陷回波，比试块200m声程处φ2平底孔的孔波高10dB，求缺陷的当量平底孔直径。
当工件厚度较大时，选用小K值，以减少声程过大引起的（），便于发现远区缺陷。
当工件厚度较大时，选用小K值，以减少声程过大引起的衰减，便于发现远区缺陷。
仪器的基线标尺全程校准为250mm声程，缺陷回波显示于标度5上，则缺陷声程是（）mm。
缺陷回波高度比φ2平底孔高24dB，假设φ2平底孔的声程为200mm，而该缺陷声程处于100mm，其缺陷为φ4当量的平底孔。
缺陷的形状对缺陷回波幅度有较大影响，当声程和直径都相等时，缺陷波高以（）形为最高，（）形次之，（）形最低。
一个校正好的超声探测系统，在100mm声程处的缺陷回波比试块上200mm处直径，横孔反射波幅度高8dB，如果工件表面状态和材质与试块相同，求缺陷的当量横孔直径。
当缺陷波与底波共存时，可认为是密集缺陷或面积较大的其它缺陷。
单选题斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波时底面回波消失D有大型缺陷回波时有底面回波
单选题对球墨铸铁探伤时，可采用下列哪种方法判断铸件质量（）A底面回波次数B杂波高度C缺陷波幅度D缺陷波占宽
多选题除缺陷的大小和声程外，影响缺陷波高的缺陷自身因素有（）A缺陷取向B缺陷形状C缺陷类型D缺陷的表面粗糙度
问答题直探头垂直入射时发现工件150mm声程处一缺陷回波，比试块200m声程处φ2平底孔的孔波高10dB，求缺陷的当量平底孔直径。
填空题当工件厚度较大时，选用小K值，以减少声程过大引起的（），便于发现远区缺陷。
判断题当工件厚度较大时，选用小K值，以减少声程过大引起的衰减，便于发现远区缺陷。A对B错
判断题缺陷回波高度比φ2平底孔高24dB，假设φ2平底孔的声程为200mm，而该缺陷声程处于100mm，其缺陷为φ4当量的平底孔。A对B错
单选题斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波，底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在