单选题在下面关于显像操作的叙述中指出正确的句子（）A溶剂去除型着色渗透探伤的显像不能用干式显像法B溶剂去除型着色渗透探伤的显像可以用干式显像法C溶剂去除型着色渗透探伤的显像，所有的显像法都可以使用
单选题
在下面关于显像操作的叙述中指出正确的句子（）
A
溶剂去除型着色渗透探伤的显像不能用干式显像法
B
溶剂去除型着色渗透探伤的显像可以用干式显像法
C
溶剂去除型着色渗透探伤的显像，所有的显像法都可以使用
参考解析
解析：
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在下面关于渗透操作的叙述中指出正确的句子（）A、用溶剂去除型着色渗透液时，除了喷涂法之外，其他方法都不能应用B、渗透操作就是将渗透液充分渗透在缺陷中的操作C、渗透时间同渗透液的种类无关，都是一定的
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在下面关于干燥操作的叙述中指出正确的句子（）A、用湿式显像法时，干燥是在显像前进行的B、在溶剂去除型渗透探伤中进行溶剂清洗时，不需要干燥C、在溶剂去除型渗透探伤中进行溶剂清洗之后，必须充分地干燥
下面关于涡流集肤效应的叙述中，指出正确的句子（）.A、试件的磁导率越低，透入深度越大B、试件的电导率越高，透入深度越大C、试验频率越低，透入深度越大D、碳钢同铝相比，碳钢的透入深度较大E、a和c是正确的
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下面关于涡流检测操作的叙述中，指出正确的句子（）.A、为了防止探伤仪器的失灵，尽可能不要预先进行稳定B、选定探伤规范是用对比试块来进行的C、探伤灵敏度是选定在探伤仪器的最大灵敏度上的D、当检测缺陷信号时，由平衡调整来判断缺陷的大小
下面关于涡流的叙述中，指出正确的句子（）.A、当导体中的磁力线变化时，在磁力线周围产生感生电流B、当导体中的磁力线被缺陷隔断时，在那里产生涡流C、导体中的涡流在导体中心部分较大，随着靠近表面，涡流大小明显下降D、导体中的涡流靠近导体表面较大，中心部分的电流密度比表面层要低得多E、a和d是正确的
下面关于显像的叙述中（）是正确的。A、利用显像剂的毛细管作用，将缺陷中的渗透液吸出来B、在荧光检验时，显像剂能遮住零件表面光泽，改善背景，利用紫外线灯下检验C、显像时间越长，缺陷就越清晰D、A和B都对
126.在WORD2003中，下面关于常用工具栏上“撤消”按纽所能执行功能的叙述中，正确的是（）A、已经做的操作不能撤消B、只能撤消上一次的操作内容C、只能撤消上一次存盘后的操作内容D、能撤消“可撤消操作列表”中的所有操作
单选题在下面关于渗透操作的叙述中指出正确的句子（）A用溶剂去除型着色渗透液时，除了喷涂法之外，其他方法都不能应用B渗透操作就是将渗透液充分渗透在缺陷中的操作C渗透时间同渗透液的种类无关，都是一定的
单选题在下面关于干燥操作的叙述中指出正确的句子（）A用湿式显像法时，干燥是在显像前进行的B在溶剂去除型渗透探伤中进行溶剂清洗时，不需要干燥C在溶剂去除型渗透探伤中进行溶剂清洗之后，必须充分地干燥
单选题下面关于涡流检测操作的叙述中，指出正确的句子（）.A为了防止探伤仪器的失灵，尽可能不要预先进行稳定B选定探伤规范是用对比试块来进行的C探伤灵敏度是选定在探伤仪器的最大灵敏度上的D当检测缺陷信号时，由平衡调整来判断缺陷的大小
单选题下面关于涡流集肤效应的叙述中，指出正确的句子（）.A试件的磁导率越低，透入深度越大B试件的电导率越高，透入深度越大C试验频率越低，透入深度越大D碳钢同铝相比，碳钢的透入深度较大Ea和c是正确的
单选题下面关于涡流的叙述中，指出正确的句子（）.A当导体中的磁力线变化时，在磁力线周围产生感生电流B当导体中的磁力线被缺陷隔断时，在那里产生涡流C导体中的涡流在导体中心部分较大，随着靠近表面，涡流大小明显下降D导体中的涡流靠近导体表面较大，中心部分的电流密度比表面层要低得多Ea和d是正确的
单选题下面关于选择涡流检测线圈的叙述中，指出正确的句子（）.A探头式线圈适用于线材、管材、棒材等的检测B穿过式线圈适用于管材内壁的检测C探头式线圈适用于板材或工件表面的局部探伤D插入式线圈适用于管材等内壁的检测Ec和d是正确的
单选题在下面关于溶剂去除型渗透探伤的叙述中指出正确的句子（）A喷雾法使用丙烷气喷雾时，因为是强燃性的，要注意防火B喷雾法不使用丙烷气C喷雾法除了使用丙烷气之外，不能用其他气体