单选题若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近A0.003B0.005C0.045D0.027

单选题
若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近
A

0.003

B

0.005

C

0.045

D

0.027


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

现场用tgδ值进行电气设备绝缘分析时,要求tgδ值不应有明显的增加。( )

现场用QSI型西林电桥测量设备绝缘的tgδ,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tgδ值大。

在对运行中设备进行介质损失角tgδ测量结果进行分析时,tgδ的绝对值虽符合20℃时标准值,但并不能完全说明该设备的绝缘状况良好。()

绝缘试验时,tgδ随温度的增加而()。A、增加B、不变C、减小

某高压电气设备测量的介质损耗因数tgδ结果如下:有缺陷部分C1=250PF,tgδ1=5%;良好部分C2=10000PF,tgδ2=0.4%。两部分并联后,整体的tgδ与()接近。A、4%B、2%C、0.5%D、0.25%

介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。

绝缘良好的电气设备,其tgδ值随电压的升高而()。

测量高压设备绝缘介质损失角正切值tg,一般使用的试验设备是()。A、QS1型西林电桥B、欧母表C、电压表D、兆欧表

绝缘试验时,tgδ随温度的增加而减小。

试验中有时发现绝缘电阻较低,泄漏电流大而被认为不合格的被试品,为何同时测得的tgδ值还合格呢?

按南网“预试”要求断路器的油纸绝缘并联电容器在10kV试验电压下的tgδ值()A、0.2%B、0.5%C、0.4%D、0.8%

电环境温度为20℃,测得220kV断路器油纸绝缘并联电容器介质损tgδ值为0.4%。

南网预防性试验规程规定,膜纸绝缘的耦合电容器在10kV电压下的tgδ值0.4%。

一台LCWD2-220电流互感器主绝缘的介损tgδ值为0.33%,绝缘电阻10000MΩ,末屏对地绝缘电阻为60MΩ,介损tgδ值16.3%,是否可以继续运行()。A、可以,主绝缘良好B、不可以,已进水受潮C、观察一段时间

现场环境温度为20℃测得220kV膜纸绝缘电容式电压互感器介质损tgδ值为0.4%。合格

试验中有时发现绝缘电阻较低,泄漏电流大而被认为不合格的被试品,为什么同时测得的tgδ值还合格呢?

若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近。A、0.3%;B、0.5%;C、4.5%;D、2.7%。

在变电站停电环境温度为20℃,测得220kV断路器膜纸绝缘并联电容器介质损tgδ值为0.4%。合格

测量tgδ值是判断电气设备绝缘状态的一项灵敏有效的方法。

变电所高压电气设备试验项目包括()A、绝缘电阻的测量B、直流高压试验C、介损tgδ的测定D、交流耐压试验

变压器绝缘受潮后试验结果发生以下哪些变化?()A、绝缘电阻降低B、吸收比不变C、tgδ值增大D、电容量不变

关于电容型电流互感器高压介质损测量,下列说法正确的是()。A、绝缘良好的设备tgδ值不随试验电压的升高而偏大,只在接近额定电压时才略微增加B、绝缘严重受潮的设备在较低的电压下,tgδ值就较大,随着电压的升高tgδ值增大C、发生气隙局放设备达到局放起始放电电压时,tgδ急剧增高D、绝缘中含有离子型杂质的设备,tgδ随电压上升而下降

单选题对一台LCWD2-110电流互感器,根据其主绝缘的绝缘电阻10000Ω、tgδ值为0.33%;末屏对地绝缘电阻60MΩ、tgδ值为16.3%,给出了各种诊断意见,其中()项是错误的A主绝缘良好,可继续运行B暂停运行,进一步做油中溶解气体色谱分析及油的水分含量测试C末屏绝缘电阻及tgδ值超标D不合格

判断题现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。A对B错

单选题某高压电气设备测量的介质损耗因数tgδ结果如下:有缺陷部分C1=250PF,tgδ1=5%;良好部分C2=10000PF,tgδ2=0.4%。两部分并联后,整体的tgδ与()接近。A4%B2%C0.5%D0.25%

判断题介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A对B错

单选题若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近A0.003B0.005C0.045D0.027