牙根发生于A、牙冠部釉质、牙本质已形成时B、牙冠部釉质已经完全形成时C、釉质刚刚发育形成时D、成釉器刚刚发育到钟状期E、牙冠部牙本质已经完全形成时
关于牙釉质的形成正确的是A.牙釉质的形成先于牙本质形成B.成釉细胞的细胞核靠近基底膜C.正常时每天形成的釉质厚度约为4μmD.成釉细胞的分化自牙颈部开始E.牙釉质发育完成后，成釉器消失
缩余釉上皮形成于A、釉质形成时期B、牙本质形成时期C、牙根形成时期D、釉质发育完成后E、牙齿萌出时
由于成釉细胞未能使形成的基质完全矿化的是A.釉质形成不全B.釉质矿化不全C.Turner牙D.氟牙症E.釉质浑浊症
由于成釉细胞未能使形成的基质完全矿化()。A.釉质形成不全B.釉质矿化不全C.Turner牙D.氟牙症E.釉质浑浊症
与乳牙有关的感染或者损伤引起继生恒牙成釉细胞的损伤，导致继生恒牙釉质形成不全或矿化不全()。A.釉质形成不全B.釉质矿化不全C.Turner牙D.氟牙症E.釉质浑浊症
某些因素导致釉质局部矿化不全()。A.釉质形成不全B.釉质矿化不全C.Turner牙D.氟牙症E.釉质浑浊症
绞釉的形成A.釉质周期性生长速率改变所形成的间歇线B.是全身代谢障碍的表现C.可以增强釉质对抗剪切力D.与成釉细胞每天的周期性形成釉质有关E.釉质钙化过程中的障碍
釉质生长线A.釉质周期性生长速率改变所形成的间歇线B.是全身代谢障碍的表现C.可以增强釉质对抗剪切力D.与成釉细胞每天的周期性形成釉质有关E.釉质钙化过程中的障碍
关于牙釉质的形成正确的是A、牙釉质的形成先于牙本质形成B、成釉细胞的细胞核靠近基底膜C、正常时每天形成的釉质厚度约为4umD、成釉细胞的分化自牙颈部开始E、牙釉质发育完成后，成釉器消失
无釉柱釉质是指A.牙釉质牙本质界最后形成的釉质B.在新萌出牙表面的一层有机薄膜SXB 无釉柱釉质是指A．牙釉质牙本质界最后形成的釉质B．在新萌出牙表面的一层有机薄膜C．多数乳牙和恒牙表面约30μm厚的釉质D．近釉质牙骨质界最后形成的釉质E．规则性的釉柱排列方向改变产生的折光现象
A.釉质浑浊症B.氟牙症C.Turner牙D.釉质形成不全E.釉质矿化不全由于成釉细胞未能使形成的基质完全矿化
绞釉的形成（）A、釉质周期性生长速率改变所形成的间歇线B、是全身代谢障碍的表现C、可以增强釉质对抗剪切力D、与成釉细胞每天的周期性形成釉质有关E、釉质钙化过程中的障碍
由于成釉细胞未能使形成的基质完全矿化的是（）A、釉质形成不全B、釉质矿化不全C、Turner牙D、氟牙症E、釉质浑浊症
某些因素导致釉质局部矿化不全的是（）A、釉质形成不全B、釉质矿化不全C、Turner牙D、氟牙症E、釉质浑浊症
釉质生长线（）A、釉质周期性生长速率改变所形成的间歇线B、是全身代谢障碍的表现C、可以增强釉质对抗剪切力D、与成釉细胞每天的周期性形成釉质有关E、釉质钙化过程中的障碍
牙根开始发育是于（）A、钟状后期B、釉质形成之前C、釉质完全形成之后D、上皮根鞘形成前E、颈环形成后
釉板形成（）A、是釉质开始钙化的早期遭遇障碍的结果B、是全身代谢障碍的表现C、可以增强釉质对抗咬合力D、是釉质基质形成过程中节律性的表现E、是釉质细胞的本身缺陷
单选题釉质生长线（）A釉质周期性生长速率改变所形成的间歇线B是全身代谢障碍的表现C可以增强釉质对抗剪切力D与成釉细胞每天的周期性形成釉质有关E釉质钙化过程中的障碍
单选题牙根发生于（ ）。A成釉器刚刚发育到钟状期B牙冠部釉质、牙本质已形成时C釉质刚刚发育形成时D牙冠部釉质已经完全形成时E牙冠部牙本质已经完全形成时
单选题某些因素导致釉质局部矿化不全的是（）A釉质形成不全B釉质矿化不全CTurner牙D氟牙症E釉质浑浊症
单选题牙釉质的最主要粘接机制是（）A粘接剂渗入酸蚀后釉质表面形成树脂突B粘接剂与釉质形成化学性结合C粘接剂与釉质形成静电吸引力D粘接剂与釉质相互溶解
单选题由于成釉细胞未能使形成的基质完全矿化的是（）A釉质形成不全B釉质矿化不全CTurner牙D氟牙症E釉质浑浊症
单选题绞釉的形成（）A釉质周期性生长速率改变所形成的间歇线B是全身代谢障碍的表现C可以增强釉质对抗剪切力D与成釉细胞每天的周期性形成釉质有关E釉质钙化过程中的障碍
单选题牙根开始发育是于（）A钟状后期B釉质形成之前C釉质完全形成之后D上皮根鞘形成前E颈环形成后