单选题芯片表面与被检材料表面不平行的超声探伤技术叫做:()。A斜角探伤B液浸探伤;C接触探伤D穿透法探伤

单选题
芯片表面与被检材料表面不平行的超声探伤技术叫做:()。
A

斜角探伤

B

液浸探伤;

C

接触探伤

D

穿透法探伤


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芯片表面与被检材料表面不平行的超声探伤技术叫做:()。A、斜角探伤B、液浸探伤;C、接触探伤D、穿透法探伤

探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。

芯片表面与被检材料表面不平行的超声波探伤称为()。A、液浸探伤法B、斜角探伤法C、接触探伤法D、穿透探伤法

探头与被检工件表面直接接触的方法,可用来作()。A、垂直法探伤B、表面波探伤C、斜射法探伤D、上述三者都可

检验参数控制相对困难,可检验导电材料表面或焊缝与堆焊层表面或近表面缺陷的无损检测方法是( )A、超声波探伤B、涡流探伤C、磁性探伤D、渗透探伤

芯片与探测面平行,使超声波垂直与探测进入材料的检验方法称为()。A、直射法B、斜射法C、表面波法D、上述三种都不对

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