采用直探头探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是( )。A、细晶组织B、耦合剂不清洁C、表面粗糙D、粗晶组织
在荧光屏上构成均匀分布呈现无规则的亮点杂波是雨雪干扰。此题为判断题(对，错)。
荧光屏图形上产生大量杂波的原因可能是（）。A、裂纹B、大灰渣C、粗晶材料D、气孔
饼类锻件最主要探测方向是（）A、直探头端面探伤B、直探头侧面探伤C、斜探头端面探伤D、斜探头侧面探伤
采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（）A、直探头探伤法B、脉冲反射法C、斜探头探伤法D、穿透法
在直探头探伤，用2.5MHz探头，调节锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量程刻度10。如果改用5MHz直探头，仪器所有旋钮保持不变，则200mm底波出现在：（）A、刻度5处B、越出荧光屏外C、仍在刻度10处D、须视具体情况而定
钢板超声波探伤主要应采用：（）A、纵波直探头B、表面波探头C、横波直探头D、聚集探头
在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用：（）A、硬保护膜直探头B、软保护膜直探头C、大尺寸直探头D、高频直探头
零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号显示叫做（）。A、底面反射B、表面反射C、缺陷反射D、杂波
采用直接接触法超声波探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是（）A、细晶组织；B、耦合剂不清洁；C、表面粗糙；D、粗晶组织
A型显示超声波探伤仪荧光屏上时基线是由扫描电路产生的（）形成的。
直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生的现象是（）。
在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应用（）直探头。
单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
在直探头探伤中，当扩散声束射到侧面上时，产生波的反射，并引起（）。
70度探头属反射式探伤法，探伤中当遇有伤损，且反射回波能被探头接收时，荧光屏显示伤波并报警.
单选题采用直探头探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是（）A细晶组织B耦合剂不清洁C表面粗糙D粗晶组织
填空题在直探头探伤中，当扩散声束射到侧面上时，产生波的反射，并引起（）。
单选题钢板超声波探伤主要应采用：（）A纵波直探头B表面波探头C横波直探头D聚集探头
填空题在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应用（）直探头。
单选题单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）A来自工作表面的杂波B来自探头的噪声C工作上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
单选题单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A来自工件表面的杂波B来自探头的噪声C工件上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
单选题荧光屏图形上产生大量杂波的原因可能是（）。A裂纹B大灰渣C粗晶材料D气孔
单选题采用直接接触法超声波探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是（）A细晶组织；B耦合剂不清洁；C表面粗糙；D粗晶组织
多选题正常检查时如果荧光屏上出现较高的杂波显示并影响对不连续性的判断，可以采取以下哪些措施（）A提高增益（增加灵敏度）并从另一面扫查，以提高信噪比B提高频率并采用大直径探头，以减小声束扩散角来降低部分杂波C在深度方向上分区域调整灵敏度和评定，以避开近距离杂波的干扰D改用透射法双探头扫查，以减少声能损失
单选题采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度（）A直探头探伤法B脉冲反射法C斜探头探伤法D穿透法
单选题饼类锻件最主要探测方向是：（）A直探头端面探伤B直探头侧面探伤C斜探头端面探伤D斜探头侧面探伤
单选题在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用：（）A硬保护膜直探头B软保护膜直探头C大尺寸直探头D高频直探头