THDS-A(哈科所)探测站热靶镀膜损伤时,影响()。A、探测角度B、保护门打开C、保护门关闭D、探测精度

THDS-A(哈科所)探测站热靶镀膜损伤时,影响()。

  • A、探测角度
  • B、保护门打开
  • C、保护门关闭
  • D、探测精度

相关考题:

THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线纵向升不上去,说明探头响应率上升。

THDS-A(哈科所)系统,探头校零故障时,热靶曲线为一水平直线,探头输出信号值都为1伏。

THDS-A(哈科所)系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度。

THDS-A(哈科所)探测站造成探头输出幅值低的原因有()。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误

THDS-A(哈科所)探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是()。A、热靶加热不足B、曲线斜率故障C、探头输出溢出D、热靶加热过快E、起始温度异常

在THDS-A设备(哈科所)探测站中,靶温可代表()。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对

THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线加热过快,可能会影响设备的测温精度。

THDS-A(哈科所)系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障。

在THDS-A设备(哈科所)探测站中,板温可代表()。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对

THDS-A(哈科所)探测站的热靶组件由力矩转角()驱动。A、电池B、器件C、结构D、电机

THDS-A(哈科所)探测站中,探头箱内的热靶总成应符合()等要求。A、活动灵活B、热靶散热片应对准探头光路C、电机转动正常D、热靶散热板背面无锈蚀E、热靶散热板背面涂层无脱落

THDS-A(哈科所)系统,热靶温度是由热靶上的AD590温度传感器传入控制箱的。

THDS-A(哈科所)系统,单侧热靶异常,一般情况下是室外轨边故障。

THDS-A(哈科所)探测站控制航空插座包含()信号。A、探头电压B、热靶加热信号C、制冷电压D、元温输出信号

THDS-A(哈科所)探测站探头电缆包含()信号。A、热靶加热信号B、保护门电压C、热靶电机电压D、校零电压

THDS-A(哈科所)设备热靶曲线有横向跳变时,则说明故障可能是探头温控板故障。

多选题THDS-A(哈科所)探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是()。A热靶加热不足B曲线斜率故障C探头输出溢出D热靶加热过快E起始温度异常

单选题THDS-A(哈科所)探测站热靶镀膜损伤时,影响()。A探测角度B保护门打开C保护门关闭D探测精度

单选题在THDS-A设备(哈科所)探测站中,元温可代表()。A环温B热靶温度C探头内部温度D以上都不对

单选题在THDS-A设备(哈科所)探测站中,靶温可代表()。A环温B保护门温度C热靶温度D以上都不对

单选题THDS-A(哈科所)探测站控制航空插座包含()信号。A探头电压B热靶加热信号C制冷电压D元温输出信号

判断题THDS-A(哈科所)系统,热靶曲线加热过快,可能会影响设备的测温精度。A对B错

判断题THDS-A(哈科所)系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度。A对B错

多选题THDS-A(哈科所)探测站中,探头箱内的热靶总成应符合()等要求。A活动灵活B热靶散热片应对准探头光路C电机转动正常D热靶散热板背面无锈蚀E热靶散热板背面涂层无脱落

单选题THDS-A(哈科所)探测站探头电缆包含()信号。A热靶加热信号B保护门电压C热靶电机电压D校零电压

多选题THDS-A(哈科所)探测站探头箱中的温度转换盒可完成()的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温

单选题THDS-A(哈科所)探测站的热靶组件由力矩转角()驱动。A电池B器件C结构D电机