描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是（）。A、底面多次回波B、探测面多次回波C、杂波D、共振信号

描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是（）。

  • A、底面多次回波
  • B、探测面多次回波
  • C、杂波
  • D、共振信号

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超声波探伤,若仪器的重复频率过高,示波屏上将产生()信号,易造成错判。A.草状回波B.固定回波C.幻像D.杂波
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超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生( )信号，易造成错判。A、草状回波B、固定回波C、幻像D、杂波
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在仪器示波屏上显示的被检工件底面反射信号称底面回波。() 此题为判断题(对，错)。
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描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅度信号的术语是() A、底面多次回波B、探测面多次回波C、杂波D、共振信号
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在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（ ）。A.杂波B.始波C.发射脉冲D.底面回波
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直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB，两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5%B.10%C.20%D.40%
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斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波，底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在
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直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB，两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的（）A、5%B、10%C、20%D、40%
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锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生：（）A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响
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由粗晶组织引起的散射，在示波屏上会看到（）。A、 工件底面回波B、 始脉冲消失C、 草状回波D、 以上都不对
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零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号显示叫做（）。A、底面反射B、表面反射C、缺陷反射D、杂波
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零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号的显示叫做（）。A、 底面反射B、 表面反射C、 缺陷反射D、 杂波
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斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波
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盲区最小的探伤方法是（）A、缺陷回波法B、底面多次回波法C、透过波高度法D、表面波法
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用多次回波法探测复合材料，假如超声波自材质衰减小的材料透入，当粘合面粘结良好时，底面回波次数很。
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在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（）。A、杂波B、始波C、发射脉冲D、底面回波
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纵波垂直法探伤中，由于（）的结果，靠近侧壁探测时缺陷回波低，远离侧壁探测时缺陷回波高。A、侧壁干涉B、波的叠加C、波的绕射D、波的衍射
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单选题斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波时底面回波消失D有大型缺陷回波时有底面回波
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单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB，两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的（）A5%B10%C20%D40%
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单选题超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生（）信号，易造成错判.A草状回波B固定回波C幻像D杂波
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单选题锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生：（）A无底面回波或底面回波降低B难以发现平行探测面的缺陷C声波穿透能力下降D缺陷回波受底面回波影响
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单选题零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号的显示叫做（）。A底面反射B表面反射C缺陷反射D杂波
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单选题在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（）。A杂波B始波C发射脉冲D底面回波
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单选题盲区最小的探伤方法是（）A缺陷回波法B底面多次回波法C透过波高度法D表面波法
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单选题斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波，底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在
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