判断题磁粉探伤方法适用于检测点状缺陷和平行于表面的分层。A对B错
判断题
磁粉探伤方法适用于检测点状缺陷和平行于表面的分层。
A
对
B
错
参考解析
解析:
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此探伤方法的优点是不受被检试件几何形状、尺寸、化学成分和内部组织结构限制,也不受表面平滑度和缺陷方位限制,缺陷显示直观,一次操作可同时检测开口于表面的所有缺陷。这种检测方法是( )。A.超声波探伤B.涡流探伤C.磁粉探伤D.渗透探伤
(2018年)此探伤方法的优点是不受被检试件几何形状、尺寸、化学成分和内部组织结构限制,也不受表面平滑度和缺陷方位限制,缺陷显示直观,一次操作可同时检测开口于表面的所有缺陷。这种检测方法是( )。A.超声波探伤B.涡流探伤C.磁粉探伤D.渗透探伤
判断题磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。A对B错