问答题MgO晶体的肖特基缺陷生成能为84kJ/mol,计算该晶体1000K和1500K的缺陷浓度。

问答题
MgO晶体的肖特基缺陷生成能为84kJ/mol,计算该晶体1000K和1500K的缺陷浓度。

参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

根据晶体结构理论和化学键理论,试比较下列各组物质熔点的高低。 (1)ZnCl2、CaCl2、KCl三种晶体 (2)NaBr、NaF、NaCl、NaI四种晶体 (3)NaF、KF、MgO、SiCl4、SiBr4五种晶体

MgO的密度是3.58g/cm3,其晶格参数是0.42nm,计算单位晶胞MgO的肖特基缺陷数。

如下说法哪个是正确的()A、形成点缺陷所引起的熵的变化使晶体能量增加B、晶体总是倾向于降低点缺陷的浓度C、当点缺陷浓度达到平衡值时,晶体自由能最低

晶体的缺陷有哪些?以及各种缺陷对晶体性能的影响?

属于晶体缺陷中面缺陷的是()A、位错B、螺旋位错C、肖特基缺陷D、层错

由于()的结果,必然会在晶体结构中产生“组分缺陷”, 组分缺陷的浓度主要取决于()和()

晶体的热缺陷有()两类,热缺陷浓度与温度的关系式为()

什么叫晶体的热缺陷?有几种类型?写出其浓度表达式,晶体中离子电导分为哪几类?

简述温度、固溶体类型、晶体结构、晶体学各向异性、浓度、晶体缺陷、第三元对扩散系数的影响及其原因。

说明晶体缺陷的概念和分类方法,简述各种晶体缺陷的概念、特征及其对性能的影响。

已知NaF晶体的晶格能为915kJ·mol-1,Na原子的电离能为496kJ·mol-1,金属钠的升华热为101kJ·mol-1,F2分子的解离能为160kJ·mol-1,并测得NaF的生成热为-571kJ·mol-1,试计算氟元素的电子亲和能E为()。

晶体场理论认为,当配合物的晶体场稳定化能为零时,该配合物不能稳定存在。

试排出下列各晶体: NaF、ScN、TiC、MgO,的熔点高低的次序。

CO2,SiO2,MgO,Ca的晶体类型分别为(),(),(),()。

在离子晶体NaCl、MgO、CaO、BaO中,熔点最高的是()。

MgO晶体比镁晶体的延展性(),石墨晶体比金刚石晶体的导电性(),SiO2晶体的硬度比SiI4晶体(),I2晶体()溶于水,NaI晶体()溶于水。

填空题由于()的结果,必然会在晶体结构中产生“组分缺陷”, 组分缺陷的浓度主要取决于()和()

填空题MgO晶体在25℃时热缺陷浓度为()。(肖特基缺陷生成能为6ev,1ev=1.6×10-15J,k=1.38×10-23J/K)

问答题MgO的密度是3.58g/cm3,其晶格参数是0.42nm,计算单位晶胞MgO的肖特基缺陷数。

填空题晶体的热缺陷有()两类,热缺陷浓度与温度的关系式为()

单选题晶体中的点缺陷不包括()A肖特基缺陷B佛伦克尔缺陷C自填隙原子D堆垛层错

单选题热缺陷亦称为本征缺陷,是指由热起伏的原因所产生的空位或间隙质点(原子或离子)。当离子晶体生成肖特基缺陷(Schottkydefect)时,()。A正离子空位和负离子空位是同时成对产生的,同时伴随晶体体积的缩小B正离子空位和负离子空位是同时成对产生的,同时伴随晶体体积的增加C正离子空位和负离子间隙是同时成对产生的,同时伴随晶体体积的增加D正离子间隙和负离子空位是同时成对产生的,同时伴随晶体体积的增加

单选题属于晶体缺陷中面缺陷的是()A位错B螺旋位错C肖特基缺陷D层错

问答题氯化钠晶体中生成一对肖特基缺陷需要的能量是2eV,而从玻尔-哈伯循环求得的晶格能为8eV。这两个能量值有很大差别,原因是什么?

问答题MgO(NaCl型结构)和Li2O(反萤石型结构)均以氧的立方密堆为基础,而且阳离子都在这种排列的间隙中,但在MgO中主要的点缺陷是肖特基缺陷,而在Li2O中是弗伦克尔型,请解释原因

单选题如下说法哪个是正确的()A形成点缺陷所引起的熵的变化使晶体能量增加B晶体总是倾向于降低点缺陷的浓度C当点缺陷浓度达到平衡值时,晶体自由能最低

问答题晶体的缺陷浓度为何随温度升高而加大?