单选题在正弦扫频试验中，规定扫频范围在（）之间来回扫频。A2～80HzB3～80HzC3～100HzD2～100Hz
单选题
在正弦扫频试验中，规定扫频范围在（）之间来回扫频。
A
2～80Hz
B
3～80Hz
C
3～100Hz
D
2～100Hz
参考解析
解析：
暂无解析
相关考题：
DT测试过程中,TEMS手机在扫频的工作模式下,下面()设置的情况下,被扫频的“频率集合”是动态变化的。 A.扫频所有频道B.扫频指定半径内的频率集C.扫频指定手机的邻频D.扫频指定的频率集合
TD-LTE路测中，如路测采集系统发现信号很弱，通过扫频仪扫频也发现信号很弱接近-126dB，下面说法正确的是()A、基站可能有故障B、终端测量信号很弱时可用扫频仪确认C、扫频仪测试不依赖网络，故测试结果更可信D、扫频仪测试不准
路测中扫频仪一般是以以太网连接，扫频仪要连接到测试PC机上，如扫频仪IP地址是192.168.10.53，则PC机需设置本地IP地址为()。A.192.167.10.53B.192.168.45.34C.172.27.10.53D.172.168.10.53
干扰排查过程中,下列操作正确的是() A.使用定向天线连接扫频仪进行室外扫频B.使用全向天线连接扫频仪进行室外扫频C.将功放直接连到扫频仪进行功放的杂散测试D.将馈线口直接连到扫频仪上进行测试
TD-SCDMA通常采用的频段：2010－2025 M。实际扫频时，扫频范围根据客户准备申请的频点或正在使用的频点调整。以目标频点为中心，前后各扫多少M带宽的一段频谱（）A、1.4B、1.5C、1.6D、1.8
在核磁共振波谱中，如果一组1H受到核外电子的屏蔽效应较小，则它的共振吸收将出现在下列的哪种位置？（）A、扫场下的高场和扫频下的高频，较小的化学位移值（δ）B、扫场下的高场和扫频下的低频，较小的化学位移值（δ）C、扫场下的低场和扫频下的高频，较大的化学位移值（δ）D、扫场下的低场和扫频下的低频，较大的化学位移值（δ）
共振吸收将出现在下列的哪种位置？（）A、扫场下的高场和扫频下的高频，较小的化学位移值（δ）B、扫场下的高场和扫频下的低频，较小的化学位移值（δ）C、扫场下的低场和扫频下的高频，较大的化学位移值（δ）D、扫场下的低场和扫频下的低频，较大的化学位移值（δ）
路测中扫频仪一般是以以太网连接，扫频仪要连接到测试PC机上，如扫频仪IP地址是192.168.10.53，则PC机需设置本地IP地址为（）。A、192.167.10.53B、192.168.45.34C、172.27.10.53D、172.168.10.53
单选题TD-SCDMA通常采用的频段：2010－2025 M。实际扫频时，扫频范围根据客户准备申请的频点或正在使用的频点调整。以目标频点为中心，前后各扫多少M带宽的一段频谱（）A1.4B1.5C1.6D1.8
多选题新版TEMS的特点有（）A广泛的测试手机支持能力BMS的行为可控制性，丰富的语音及数据业务命令行支持功能C可用内部扫频器或外部扫频器（TEMS扫频器）进行扫频D广泛的数据业务支持功能E话音质量索引（SQI）
单选题共振吸收将出现在下列的哪种位置？（）A扫场下的高场和扫频下的高频，较小的化学位移值（δ）B扫场下的高场和扫频下的低频，较小的化学位移值（δ）C扫场下的低场和扫频下的高频，较大的化学位移值（δ）D扫场下的低场和扫频下的低频，较大的化学位移值（δ）
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判断题TD路测软件不能支持扫频仪测试和分析扫频仪数据A对B错