单选题由工件引起的散射通常叫做：（）A背散射B侧散射C咬边D正向散射

单选题
由工件引起的散射通常叫做：（）
A

背散射

B

侧散射

C

咬边

D

正向散射

参考解析

解析： 暂无解析

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为了减少由自重而引起的弯曲变形,对细长工件通常采用多点支承。() 此题为判断题(对，错)。
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由试样本身引起的散射通常叫做()。 A、背散射B、侧散射C、正向散射D、杂乱散射
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因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做()A.角度调整B.散射C.折射D.扩散
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由工件引起的散射通常叫做：（）A、背散射B、侧散射C、咬边D、正向散射
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暗袋背面受到墙壁或地板产生的散射线叫做：（）A、一次散射B、内部散射C、正向散射D、背散射
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背散射线的存在，会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B来验证背散射线是否存在。
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背散射线的存在，会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个嵌字B来验证背散射线是否存在。
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由被检工件引起的散射线是（）A、背散射B、侧面散射C、正向散射D、全都是
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因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做（）A、角度调整B、散射C、折射D、扩散
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比较大的散射源通常是（）A、铅箔增感屏B、铅背板C、地板和墙壁D、被检工件本身
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透照工件时在暗袋后放薄铅板的作用是（）A、起增感作用B、防止工件散射线C、防止背散射D、以上都不是
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窄束射线和宽束射线，在透照工件时出现下列情况（）。A、窄束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B、宽束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C、窄束透照工件时，只有未散射的透过射线I到达检测器D、以上B和C均正确
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由粗晶组织引起的散射，在示波屏上会看到（）。A、 工件底面回波B、 始脉冲消失C、 草状回波D、 以上都不对
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比较大的散射源通常是（）。A、铅增感屏B、被检测工件C、地面和墙壁
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耦合剂的主要作用是（）A、补偿被探件表面粗糙B、补偿因曲面引起的灵敏度下降C、确保探头与工件声能的传递D、补偿工件因晶粒度大引起的散射衰减
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单选题窄束射线和宽束射线，在透照工件时出现下列情况（）。A窄束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B宽束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C窄束透照工件时，只有未散射的透过射线I到达检测器D以上B和C均正确
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单选题透照工件时在暗袋后放薄铅板的作用是（）A起增感作用B防止工件散射线C防止背散射D以上都不是
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单选题由粗晶组织引起的散射，在示波屏上会看到（）。A工件底面回波B始脉冲消失C草状回波D以上都不对
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单选题以下有关内部散射线和外部散射线的说法错误的是（）A由于工件内部形成的散射线称内部散射线B工件以外物体形成的散射线称外部散射线C射线照相时，到达胶片的散射线，最主要是来自工件以外物体形成的外部散射线D射线照相时，到达胶片的散射线，最主要是来自被透照工件本身的内部散射
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单选题由试样本身引起的散射通常叫做（）A背散射B侧散射C正向散射D杂乱散射
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判断题背散射线的存在，会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B来验证背散射线是否存在。A对B错
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单选题比较大的散射源通常是（）A铅箔增感屏B铅背板C地板和墙壁D被检工件本身
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单选题暗袋背面受到墙壁或地板产生的散射线叫做：（）A一次散射B内部散射C正向散射D背散射
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单选题耦合剂的主要作用是（）A补偿被探件表面粗糙B补偿因曲面引起的灵敏度下降C确保探头与工件声能的传递D补偿工件因晶粒度大引起的散射衰减
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判断题背散射线的存在，会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个嵌字B来验证背散射线是否存在。A对B错
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单选题因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做（）A角度调整B散射C折射D扩散
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单选题由被检工件引起的散射线是（）A背散射B侧面散射C正向散射D全都是
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