千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。 A、0.9μmB、0C、1.8μm
在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。 A、变凹B、变凸C、不变
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。 A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉
使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm
用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。A、准直望远镜B、罐式水平量器C、平晶
光学平晶等厚干涉法适用于测量精度较高的（）。A、大平面B、小平面C、圆柱面D、圆跳动
在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。A、变凹B、变凸C、不变
用来检测平面度、直线度的量具有（）。A、平晶B、平板C、刀口尺D、水平仪
填空题使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
填空题用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
单选题在使用平晶时，如果用手触摸平晶时间过长，会使平晶平面度（）。A变凹B变凸C不变