单选题X-R图示过程一直处于受控状态，组织对过程进行系统改进减少普通原变差后，控制限变窄，以下正确的是（）A过程打点可能出界B过程打点不会出界C过程打点一定出界D以上都有可能
单选题
X-R图示过程一直处于受控状态，组织对过程进行系统改进减少普通原变差后，控制限变窄，以下正确的是（）
A
过程打点可能出界
B
过程打点不会出界
C
过程打点一定出界
D
以上都有可能
参考解析
解析：
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关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
均值控制图显示最近有连续9个点落在中心线的同一侧，但均在控制限内，这说明（ ）。A.过程失控，过程中心出现系统偏移，应查找原因，及时纠正B.过程输出呈现趋势性变化，应重新计算控制界限C.样本点均在控制限内，过程处于统计控制状态D.过程受控，不会影响Cp和Cpk
以下有关质量控制的描述不正确的是（）A. 质量控制范围只包括质量管理过程B. 质量控制的关键是是所有质量过程和活动始终处于完全受控状态C. 质量控制的基础是过程控制D. 质量控制是质量改进的前提
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
对于控制图的使用，以下描述正确的是（）A、超出控制限的点表明过程一定有异常发生；B、只要存在波动，都是不能容忍的，因此需要对流程进行及时的调整；C、在控制图中，发现异常报警后，应该就马上进行工艺调整，直到报警消失；D、处于统计受控的流程（控制图上没有任何异常点出现）就不用改善了；E、处于统计受控的流程可能产生大量的不良品。
下列对流程的陈述中错误的是（）A、当流程不受特殊因素影响时，流程处于统计受控状态下B、当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时，流程处于统计受控状态下C、当控制限落在客户规格限内时，流程处于统计受控状态下D、当流程仅受偶然原因变异的影响时，流程处于统计受控之下
根据TS16949，生产过程改进必须持续（）A、增加产品特性变差和生产过程参数B、专注于对特性变差以及生产过程参数的控制和减少C、专注于对产品特性和以零不合格产品为目标的生产过程参数的持续改进D、改进操作者绩效和通过文件进行过程的控制
单选题下列对流程的陈述中错误的是（）A当流程不受特殊因素影响时，流程处于统计受控状态下B当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时，流程处于统计受控状态下C当控制限落在客户规格限内时，流程处于统计受控状态下D当流程仅受偶然原因变异的影响时，流程处于统计受控之下
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
多选题关于过程能力(Cp)评级说法正确的是( )A如果过程不处于受控状态，对Cp的计算没有意义BCp＝1.00时，要求过程准确地集中在容差分布范围的均值处CCp＝1.33时，生产所有单元处于规范限内的目标更容易实现DCp＝1.5时，为Cp的“安全”下限ECp＞1.5时，才能保证一个受控过程所生产的所有单元处于规范之内
多选题以下关于过程能力说明正确的选项是（）A过程能力指过程满足规范的能力B可以通过过程能力求得发生不良的概率C计算过程Cpk时，需过程处于稳定状态D评估过程能力可以减少变差和成本