根据JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:对环形锻件进行横波检测时,发现一缺陷波高比基准灵敏度距离－波幅曲线低4dB,则该缺陷可不必纪录() 此题为判断题(对，错)。
根据JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定,对焊缝超声波探伤缺陷类型的识别就是确定缺陷的实际性质。() 此题为判断题(对，错)。
按照JB/T4730.1-2005《承压设备无损检测 第1部分：通用要求》的规定，圆形缺陷是指长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。()
JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，从事射线无损检测的人员上岗前应进行辐射安全知识的培训。并取得放射工作人员证。()
按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，单壁透照中，如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时，应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告上注明。()
按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定，对于一次曝光完成多张胶片照相的情况，每张底片上都应有像质计影像。()
按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定，小径管可选用通用线型像质计，也可选用专用(等径金属丝)像质计。()
根据JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定，返修标记属于识别标记，而扩大检测标记属于定位标记。()
JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，射线检测的底片评定一般应在专用的评片室内进行。()
JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，评定范围内的黑度D>4.0的底片，不允许进行评定。()
JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，当各类缺陷评定的质量等级不同时，以质量最差的级别作为对接焊接接头的质量级别。()
JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定了承压设备金属材料受压元件的熔化焊对接接头的χ射线和γ射线检测技术和质量分组要求。()
JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，对初次制定的检测工艺，或使用中检测工艺的条件、环境发生变化时，应进行背散射防护检查。()
按照JB/T4730.1-2005《承压设备无损检测 第1部分：通用要求》的规定，条形缺陷是指长宽比大于等于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。()
按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定，射线检测时对底片上所有的圆形缺陷，都必须先按缺陷尺寸换算成点数，然后才能评级。()
JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定(钢、镍、铜承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测)，说明Ⅰ级对接焊接接头和Ⅱ级对接焊接接头内分别不允许存在哪些缺陷?
JB/T 4730.4-2005《承压设备无损检测 第4部分：磁粉检测》的要求，承压设备磁粉检测质量分级评定时，哪些是不允许存在的缺陷?
JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》对现场进行χ射线检测时的辐射防护提出了哪些要求?
按照JB/T4730.3—2005《承压设备无损检测》标准， 对接焊接接头超声检测时缺陷指长度如何测定？
问答题JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测第2部分：射线检测》的规定（钢、镍、铜承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测），说明Ⅰ级对接焊接接头和Ⅱ级对接焊接接头内分别不允许存在哪些缺陷？
问答题JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测第2部分：射线检测》对现场进行χ射线检测时的辐射防护提出了哪些要求？
判断题JB/T4730.3－2005《承压设备无损检测》标准规定，碳钢和低合金钢锻件超声检测时，应记录当量直径超过Φ3mm 的单个缺陷的波幅和位置。A对B错
判断题JB/T4730.3－2005《承压设备无损检测》标准规定，为了防止缺陷漏检，检测焊缝中纵、横向缺陷必须采用相同的扫查灵敏度。A对B错
判断题按照JB/T4730.1—2005《承压设备无损检测第1部分：通用要求》的规定，条形缺陷是指长宽比大于等于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。A对B错
问答题JB/T4730.4-2005《承压设备无损检测第4部分：磁粉检测》的要求，承压设备磁粉检测质量分级评定时，哪些是不允许存在的缺陷？
判断题按照JB/T4730.3－2005《承压设备无损检测》规定，当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位进行检测时，应按照各自的方法评定级别。A对B错
问答题按照JB/T4730.3—2005《承压设备无损检测》标准， 对接焊接接头超声检测时缺陷指长度如何测定？