试件上的耳孔周围有辐射状的裂纹,最宜采用轴向通电磁化法检查

试件上的耳孔周围有辐射状的裂纹,最宜采用轴向通电磁化法检查


相关考题:

圆柱形工件直径≤125mm用轴向通电法磁化时,磁化电流计算剩磁法用()式,连续法用()式

JB/T4730.4-2005标准规定:采用轴向通电法和触头法磁化时,为了防止电弧烧伤工件表面,应将工件和电极接触部分清除干净或在电极上安装非导电物质。

用于轴向通电法的磁化规范,同样适用于中心导体法。

试件上的耳孔周围有辐射状的裂纹,最宜采用穿棒磁化法检查

磁粉检测的磁化方法有:()。A、轴向通电法、触头法B、线圈法、磁轭法C、中心导体法D、交叉磁轭法

磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

试件上的耳孔周围有辐射状的裂纹,最宜采用()磁化法

采用轴向通电法探伤,在决定磁化电流时,应考虑零件的():A、长度B、直径C、长径比D、表面状态

为检测空心零件内壁上的纵向和端面径向的缺陷,应当采用()。A、轴向通电法磁化B、线圈法磁化C、芯棒法磁化D、电磁轭整体磁化

对材质和直径相同、长度不同的圆钢棒用轴向通电磁化法探伤,当试件由长变短时,应使磁化电流()

轴类工件应选用()检测。A、感应电流磁化法B、磁轭法C、支杆触头接触通电法D、线圈法或轴向通电法

为了检验空心零件内壁上的纵向缺陷,应当()。A、轴向通电磁化B、线圈通电磁化C、芯棒通电磁化D、以上都不对

下列有关退磁的叙述中正确的是()。A、所谓退磁就是将试件是的剩磁减少到不妨碍使用的程度B、退磁是把试件放入通直流电的线圈中,不切换电流方向,使试件逐渐远离线圈C、圆形截面的试件用轴向通电法磁化后,不需要进行退磁D、退磁是使磁场交替180°反转磁化

可能造成零件形成磁极太强,因而不能对零件进行满意检验的是()。A、轴向通电磁化B、线圈法纵向磁化C、触头法通电磁化D、磁轭法磁化

对3个直径为30mm、长为50mm,有周向缺陷的圆柱体试件进行磁粉探伤时,正确的操作工艺是()。A、将3个试件沿轴向连接在一起,平行于线圈轴置入线圈中。用连续法施加磁粉,先取中间的试件进行观察,然后再将端部的一个换入中间,重复进行探伤B、将单个试件放入线圈中央,用连续法施加磁粉进行观察C、把3个试件沿轴向连接在一起,用轴向通电法磁化,用连续法进行探伤D、单个用轴向通电法磁化,连续法进行探伤

在磁粉检测中,下面四种说法,正确的是()。A、采用芯棒法可以检测圆筒构件圆周方向的裂纹B、轴向通电法可以检测圆柱构件的圆周方向的裂纹C、采用直接通电法,不能检测空心圆柱体内表面的裂纹损伤D、采用线圈法,可以检测平行构件轴线方向的裂纹

在磁粉检测中,下面四种说法,哪种正确?()A、采用芯棒法可以检测圆筒构件圆周方向的裂纹.B、轴向通电法可以检测圆柱构件的圆周方向的裂纹。C、采用直接通电法,不能检测空心圆柱体内表面的裂纹损伤.D、采用线圈法,可以检测平行构件轴线方向的裂纹。

填空题对材质和直径相同、长度不同的圆钢棒用轴向通电磁化法探伤,当试件由长变短时,应使磁化电流()

填空题圆柱形工件直径≤125mm用轴向通电法磁化时,磁化电流计算剩磁法用()式,连续法用()式

单选题为检测空心零件内壁上的纵向和端面径向的缺陷,应当采用()。A轴向通电法磁化B线圈法磁化C芯棒法磁化D电磁轭整体磁化

判断题试件上的耳孔周围有辐射状的裂纹,最宜采用穿棒磁化法检查A对B错

判断题试件上的耳孔周围有辐射状的裂纹,最宜采用轴向通电磁化法检查A对B错

多选题磁粉检测的磁化方法有:()。A轴向通电法、触头法B线圈法、磁轭法C中心导体法D交叉磁轭法

填空题磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

单选题采用轴向通电法检测,在决定磁化电流时,应考虑零件的()。A长度B直径C长径比D表面状态

填空题试件上的耳孔周围有辐射状的裂纹,最宜采用()磁化法

单选题可能造成零件形成磁极太强,因而不能对零件进行满意检验的是()A轴向通电磁化B线圈法纵向磁化C触头法通电磁化D磁轭法磁化