在使用照相法对缺陷迹痕进行照相记录时，下面哪个内容是不重要的？（）A、照相日期或检验时间B、照相所用底片的品牌C、缺陷的相关位置D、比例尺

在使用照相法对缺陷迹痕进行照相记录时，下面哪个内容是不重要的？（）

  • A、照相日期或检验时间
  • B、照相所用底片的品牌
  • C、缺陷的相关位置
  • D、比例尺

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常用的记录磁痕方法是（）A、胶带粘贴法B、照相法C、图示法D、以上都是
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当采用下列哪种方法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏？（）A、荧光屏观察法B、高KV值射线照相法C、低KV值射线照相法D、干板射线照相法
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当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距小于显示迹痕时，则可看作（）缺陷显示迹痕A、单独的B、连续的C、分散的D、密集型的
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按ZBJ 04005-87标准规定，圆状缺陷显示迹痕指除了（）缺陷显示迹痕之外的其他缺陷均为圆状缺陷显示迹痕
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由于渗透检测检出的缺陷是开口缺陷，因此只要－出现显示迹痕就可断定显示迹痕必是缺陷。
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对射线照相法的优点描述正确的是（）。A、检测结果有直接记录，可长期保存B、可以获得缺陷的直观图像C、定性准确D、对长度、宽度尺寸的定量比较准确
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利用照相法进行射线探伤，底片上缺陷的形状和大小与真实缺陷是完全一样的。
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按ZBJ04005-87标准，当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距大于显示迹痕时，则可看作（）缺陷显示迹痕A、单独的B、连续的C、以两缺陷显示迹痕长度之和计算D、以两缺陷显示迹痕长度与间距之和计算
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缺陷显示迹痕可根据需要分别用（）、（）或（）等方法记录
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分散状缺陷显示迹痕，指在一定区域内存在几个缺陷显示迹痕，按ZBJ04005-87标准，在评定缺陷显示迹痕等级时，要考虑在2500mm2（）面积内长度超过1mm缺陷显示迹痕的总和A、圆形B、正方形C、三角形D、矩形
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在观察过程中发现可疑缺陷磁痕时，使用粉笔在车轴上画出缺陷磁痕的位置，并详细记录缺陷磁痕的（）。A、位置B、方向C、大小D、尺寸大小
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在射线检测中，利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为（）。A、直接照相法B、间接照相法C、透过照相法D、荧光照相法
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与射线照相法相比，荧光屏观察法的优点是检测速度快，可即时判别，但灵敏度较低，难以将缺陷永久记录保存。
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观察磁痕过程中发现可疑缺陷磁痕时，使用粉笔在车轴上画出缺陷磁痕的位置，并详细记录缺陷磁痕的（）。A、位置B、方向C、尺寸大小D、磁痕特征
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现场照相的一般方法有（）？A、相向照相法B、多向照相法C、分段连续照相法D、回转连续照相法E、比例照相法
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与射线照相法相比，荧光屏观察法的优点是（），可即时判别，但灵敏度较低，难以将缺陷永久记录保存。
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单选题按ZBJ04005-87标准，当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距大于显示迹痕时，则可看作（）缺陷显示迹痕A单独的B连续的C以两缺陷显示迹痕长度之和计算D以两缺陷显示迹痕长度与间距之和计算
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判断题由于渗透检测检出的缺陷是开口缺陷，因此只要－出现显示迹痕就可断定显示迹痕必是缺陷。A对B错
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单选题常用的记录磁痕方法是（）A胶带粘贴法B照相法C图示法D以上都是
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单选题当采用下列哪种方法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏？（）A荧光屏观察法B高KV值射线照相法C低KV值射线照相法D干板射线照相法
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单选题在射线检测中，利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为（）A直接照相法B间接照相法C透过照相法D荧光照相法
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多选题现场照相的一般方法有（）？A相向照相法B多向照相法C分段连续照相法D回转连续照相法E比例照相法
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单选题当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距小于显示迹痕时，则可看作（）缺陷显示迹痕A单独的B连续的C分散的D密集型的
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单选题在使用照相法对缺陷迹痕进行照相记录时，下面哪个内容是不重要的？（）A照相日期或检验时间B照相所用底片的品牌C缺陷的相关位置D比例尺
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判断题长宽比大于等于3的缺陷显示为线性缺陷迹痕，长宽比不大于3的缺陷显示为圆形缺陷迹痕。A对B错
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单选题分散状缺陷显示迹痕，指在一定区域内存在几个缺陷显示迹痕，按ZBJ04005-87标准，在评定缺陷显示迹痕等级时，要考虑在2500mm2（）面积内长度超过1mm缺陷显示迹痕的总和A圆形B正方形C三角形D矩形
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填空题按ZBJ 04005-87标准规定，圆状缺陷显示迹痕指除了（）缺陷显示迹痕之外的其他缺陷均为圆状缺陷显示迹痕
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