氦质谱检漏仪中质谱室的用途是()A、分析试样中的示踪气体含量;B、分析试样中的各种气体含量;C、分离出示踪气体的离子;D、定性分析气体成分。

氦质谱检漏仪中质谱室的用途是()

  • A、分析试样中的示踪气体含量;
  • B、分析试样中的各种气体含量;
  • C、分离出示踪气体的离子;
  • D、定性分析气体成分。

相关考题:

氦质谱检漏仪的质谱室由()组成?A、离子源+收集器B、真空室C、分析器D、A+C

在氦质谱检漏仪中,灯丝长时间处在低真空中将会()A、延长灯丝寿命;B、对灯丝产生微小损害或无损害;C、使灯丝烧毁;D、提高灯丝的灵敏度

下列哪一个不是按质谱的离子源对质谱分类?()A、电喷雾质谱B、基体辅助激光解吸质谱C、快原子轰击质谱D、四级杆质

压水堆燃料棒氦质谱检漏工艺所用的标准漏孔是:()A、玻璃毛细管型;B、薄膜渗氦型;C、硬玻璃—铂丝型;D、金属压偏型。

放射性同位素检漏工作中,通常采用下述指示仪器()A、氦质谱检漏仪B、卤素检漏仪C、闪烁计数器D、频率计数器

燃料棒氦质谱检漏应选择()方法A、充压法B、背压法C、气泡法D、A+B

用来监测氦质谱检漏仪质谱室压力的真空计是()A、电阻真空计;B、热偶真空计;C、热阴极电离真空计;D、潘宁真空计。

吸枪氦质谱检漏技术适用于()A、正压容器检漏;B、负压容器检漏;C、真空容器高灵敏度氦质谱检漏;D、真空容器低灵敏度氦质谱检漏。

CI-MS表示()A、电子轰击质谱B、化学电离质谱C、电喷雾质谱D、激光解吸质谱

通过调节DC和RF电压进行离子选择的质谱仪是()A、飞行时间质谱B、四级杆质谱C、傅里叶变换质谱D、磁质谱

以下质谱中哪种类型的分辨率最高?()A、三重四级杆质谱B、线性离子阱质谱C、Q-TOF质谱D、ICP质谱

下列不属于串联质谱是()。A、四级杆质谱B、三重四级杆质谱C、离子阱质谱D、四级杆飞行时间质谱

下列属于多级质谱的是()。A、四级杆质谱B、飞行时间质谱C、离子阱质谱D、磁质谱

以下哪一种质谱属于无机质谱?()A、三重四级杆质谱B、线性离子阱质谱C、基质辅助激光解吸飞行时间质谱D、电感耦合等离子质谱

下列哪一个不是按质谱的质量分析器对质谱分类?()A、傅里叶变换质谱B、电喷雾质谱C、飞行时间质谱D、四级杆质谱

下列哪一个不是有机质谱?()A、电喷雾电离质谱B、基质辅助激光解吸电离质谱C、感应耦合等离子体质谱D、大气压电离质谱

连续X线在物质中的衰减特点是()A、平均能量提高、能谱变宽、线质提高B、平均能量降低、能谱变宽、线质降低C、平均能量提高、能谱变窄、线质提高D、平均能量提高、能谱变宽、线质降低E、平均能量降低、能谱变窄、线质提高

单选题氦质谱检漏仪的质谱室由()组成?A离子源+收集器B真空室C分析器DA+C

单选题在氦质谱检漏仪中,灯丝长时间处在低真空中将会()A延长灯丝寿命;B对灯丝产生微小损害或无损害;C使灯丝烧毁;D提高灯丝的灵敏度

问答题简述有机质谱的主要用途。

单选题放射性同位素检漏工作中,通常采用下述指示仪器()A氦质谱检漏仪B卤素检漏仪C闪烁计数器D频率计数器

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单选题当采用氦质谱检漏的喷吹法时,检漏的次序是()A从被检件的下方至上方、由远离检漏仪处向靠近检漏仪处逐点进行喷吹;B从被检件的上方至下方、由靠近检漏仪处向远离检漏仪处逐点进行喷吹;C从检漏的最难处到最简单处逐点进行喷吹;D从检漏的最简单处到检漏的最难处逐点进行喷吹

单选题用来监测氦质谱检漏仪质谱室压力的真空计是()A电阻真空计;B热偶真空计;C热阴极电离真空计;D潘宁真空计。

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单选题吸枪氦质谱检漏技术适用于()A正压容器检漏;B负压容器检漏;C真空容器高灵敏度氦质谱检漏;D真空容器低灵敏度氦质谱检漏。