在偏光显微镜法测高聚物的熔点时，所做的试样片的厚度为（）。A、1～5cmB、1～5mmC、0.1～0.5mmD、0.01～0.05mm

在偏光显微镜法测高聚物的熔点时，所做的试样片的厚度为（）。

  • A、1～5cm
  • B、1～5mm
  • C、0.1～0.5mm
  • D、0.01～0.05mm

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()不是矿物分析。 A、物相分析B、试金分析C、岩矿鉴定D、偏光显微镜分析
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免疫荧光染色观察结果应采用的显微镜为A、普通光学显微镜B、相差显微镜C、荧光显微镜D、电子显微镜E、偏光显微镜
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A.透射偏光显微镜B.光学显微镜C.反射偏光显微镜D.电子显微镜E.以上都不是胶态矿物药使用的显微镜是
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A.电子显微镜B.透射偏光显微镜C.光学显微镜D.反射偏光显微镜E.以上都不是粉末矿物药用
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A.电子显微镜B.透射偏光显微镜C.光学显微镜D.反射偏光显微镜E.以上都不是胶态矿物药用
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偏光显微镜（　）
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在用偏光显微镜法测定高聚物的熔点时，下列表述哪一个是错误的（）。A、试样的状态对结果影响很大B、点火的方式对测试结果影响很大C、升温速度对测试结果也有较大的影响
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屋面防水厚度小于3mm时的高聚物改性沥青卷材严禁采用热熔法。
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在使用金相显微镜时，若视场明亮，则使用的观察方法是（）。A、暗场观察B、明场观察C、偏光观察
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对超声波测厚试块的要求有（）A、试块要求与被检材料相同或近似的声学性B、在被测范围内，有精确的厚度值C、试块最大厚度应接近测厚范围的最大值D、试块最小厚度应接近测厚范围的最小值
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简述偏光显微镜法测高聚物熔点的测试原理。
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在使用毛细管法测定高聚物的熔点时，当试验温度到达比预期的熔点低多少时，把升温速度调整到2±0.5℃（）。A、50℃B、20℃C、10℃D、5℃
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在高聚物结晶过程中拉伸，则会导致（）。A、熔点升高B、熔点下降C、熔点不变
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在用偏光显微镜法测高聚物的熔点时，对于某些材料，在加热过程中空气能引起氧化、降解，从而造成无法观察到双折射现象，对于这类试样，需用惰性气体对其进行保护，一般用（）。A、氮气B、氢气C、氨气D、氩
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晶态高聚物与小分子晶体的溶解过程的区别，下列说法中正确的是（）。A、结晶高聚物的熔融过程是折线，小分子晶体的熔融过程是渐近线。B、结晶高聚物的熔点无记忆性，小分子晶体的熔点由记忆性。C、结晶高聚物的熔点温度范围窄，小分子晶体的熔点温度范围宽。D、结晶高聚物的熔点与两相的组成有关，小分子晶体的熔点与两相的组成无关。
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用偏光显微镜法测量高聚物的熔点时，当从目镜中观察到双折射现象时的温度定义为该物质的熔点（）。A、消失B、最明显C、出现
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偏光显微镜在使用之前要进行哪些调节与校正？调节焦距时应怎样做？
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请举例说明影响晶态高聚物熔点的结构因素有哪些，并写出一种耐高温材料（Tm＞300℃）的化学结构式和名称。试列举一种测定高聚物熔点的方法及原理。
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用偏光显微镜观察宝石多色性，应在：（）.A、单偏光下进行B、正偏光下进行C、锥光下进行
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问答题偏光显微镜在使用之前要进行哪些调节与校正？调节焦距时应怎样做？
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名词解释题高聚物的熔点
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填空题在偏光显微镜中，校正上下偏光振动方向的矿物为（）。
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问答题请举例说明影响晶态高聚物熔点的结构因素有哪些，并写出一种耐高温材料（Tm＞300℃）的化学结构式和名称。试列举一种测定高聚物熔点的方法及原理。
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其它(1).为存在于薄壁细胞中的类圆球形的小颗粒（　）|(2).遇稀碘液变蓝紫色（　）|(3).在偏光显微镜下观察，可见其有偏光现象（　）|(4).加硝酸汞试液,显砖红色（　）
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多选题对超声波测厚试块的要求有（）A试块要求与被检材料相同或近似的声学性B在被测范围内，有精确的厚度值C试块最大厚度应接近测厚范围的最大值D试块最小厚度应接近测厚范围的最小值
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单选题镀层的厚度检验中，（）测厚是一种快速、高精度的非破坏性测厚方法。A点滴法B金相显微镜法C磁性法DX射线荧光法
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单选题在反光显微镜下，可得到（）等四种不同的观测条件。A自然光、斜照光、单偏光、上偏光B斜照光、单偏光、上偏光、锥光C自然光、单偏光、正交偏光、斜照光D斜照光、上偏光、前偏光、正交偏光
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