X射线光谱仪的X射线发生装置由()、()、冷却器、稳压器构成。

X射线光谱仪的X射线发生装置由()、()、冷却器、稳压器构成。


相关考题:

关于X射线"质"的描述错误的是A、即X射线的强度B、由X射线的波长决定C、由X射线的频率决定D、X射线波长越短,穿透力越强E、X射线波长越长,X射线"质"越硬

关于X线质,叙述正确的是 A、即X射线的强度B、由X射线的波长决定C、由X射线的频率决定D、X射线波长越短,穿透力越弱E、X射线波长越长,X射线质越硬

关于X射线“质”的叙述,错误的是A.即X射线的强度B.由X射线的波长决定C.由X射线的频率决定D.X射线波长越短,穿透力越强E.X射线波长越长,X射线“质”越硬

X射线行李包检查装置、牙科X射线机、X射线摄影装置和其它高于豁免水平的X射线机是Ⅲ类射线装置。

X射线荧光光谱仪由光源、()、()和谱仪控制与数据处理系统组成。

X射线荧光光谱仪高压发生器的作用是:()。

台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。

X射线荧光光谱仪,激发光源采用X射线,试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。

波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将()的X射线变成()的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合

波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

X射线荧光光谱仪的X射线发生器由()构成。A、X射线管B、高压电源C、初级电源D、控制器

X射线荧光光谱仪分析原理是什么?

在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光

波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线()转换成()的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流

X射线荧光光谱仪需要外接冷却水,其作用是为了冷却()。A、X射线管B、分光室C、内部冷却水和X光管阴极灯丝

X射线荧光光谱仪探测器的作用是:()。

由X射线光管产生的X射线是()。A、连续X射线B、特征X射线C、连续X射线和特征X射线

X射线荧光光谱仪上,采用W靶X射线管适于分析重元素:Cr靶X射线管适于分析轻元素,而()靶X射线管则在一定程度上,却对轻、重元素的分析都能兼顾。

X射线荧光光谱仪电子测量系统由()、放大器、()和记录系统构成。

顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、()、准直器、测角仪、()以及样品室、计数电路和计算机组成。

X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与()之间。A、X射线管B、晶体C、探测器

波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时,计数率和X射线真实强度不成正比,这种现象称作()现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收

在X射线荧光分析法中,X荧光是指()。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线

X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线,一般说来,原级X射线的波长比次级的长。

判断题X射线行李包检查装置、牙科X射线机、X射线摄影装置和其它高于豁免水平的X射线机是Ⅲ类射线装置。A对B错

单选题关于X射线"质"的描述错误的是()A即X射线的强度B由X射线的波长决定C由X射线的频率决定DX射线波长越短,穿透力越强EX射线波长越长,X射线"质"越硬