产品被检部位如有吸收射线、()较少、底片上感光量增大,证明被检部位内部有缺陷。A、原子B、粒子C、光子D、分子

产品被检部位如有吸收射线、()较少、底片上感光量增大,证明被检部位内部有缺陷。

  • A、原子
  • B、粒子
  • C、光子
  • D、分子

相关考题:

钢结构进行射线探伤时,射线穿过有缺陷部位后在底片上显示更黑。( )

射线照相检测和超声检测可用于检测被检工件内部和表面的缺陷。A对B错

kV增加时()。A、X线穿透力增强了B、X线频率增大了C、被检体吸收计量减少了D、穿过被检体时散射线减少了E、X线对比度增加了

光源发射的特征谱线通过样品蒸气时,被下列哪种粒子吸收()A、分子B、离子C、激发态原子D、基态原子

射线照相的依据是()A、射线在穿透物质过程中会与物质发生相互作用,因吸收和散射而使其强度减弱B、强度衰减程度取决于物质的衰减系数和在物质中穿越的厚度C、底片上各点的黑化程度取决于射线照射量,由于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同,底片上相应部位就会出现黑度差异D、以上都对

射线照相检测较适用于检测被检工件内部的面积型缺陷。

工件内部如有一面积型缺陷,当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时,在底片上的影像最清晰。

在什么情况下涡流检测系统适合于划分质量等级,例如:“质量数”?()A、被检产品无缺陷;B、被检产品允许有缺陷部位;C、被检产品质量低劣D、被检产品质量不稳定

计算题:射线照相底片上无缺陷部位的黑度为2.6,缺陷部位的黑度为3.0,已知散射比n=1,吸收系数μ=2cm-1,胶片反差系数r在该黑度范围内为3,求缺陷的厚度是多少?(设缺陷对射线的吸收不计)

衰减系数μ与()无关。A、 射线源的种类或管电压B、 被检材料的种类和密度C、 X光管阳极靶的原子序数D、 被检材料的原子序数

衰减系数υ与()。A、射线源种类或管电压有关B、被检材料种类和密度C、X光管阳极靶原子序数有关D、被检材料的原子序数

射线照相检测和超声检测可用于检测被检工件内部和表面的缺陷。

射线照相上两个部位的密度差叫做()。A、胶片的对比度B、射线照相的对比度C、被检物体的对比度D、射线照相的清晰度

连续X线透过被照体后使()A、射线平均能量降低B、射线平均能量提高C、射线平均能量接近其最高能量D、低能光子比高能光子更多地被吸收E、高能光子比低能光子更多地被吸收

渗透检测(着色探伤)的操作步骤是()。A、擦拭干净被检部位,先涂渗透剂,再涂显现粉B、先涂渗透剂,擦拭干净被检部位,再涂显现粉C、擦拭干净被检部位,涂以显现粉,涂以渗透剂

在进行射线检测时,有缺陷部位的射线强度()无缺陷部位,底片暗房处理后的黑度较大。A、低于B、等于C、高于

用X射线对金属试件进行探伤检查时,与基体金属相比,试件中的气孔、非金属夹渣对射线的吸收能力如何?()A、低,所以X射线感光胶片上对应于缺欠的部位影像黑度高。B、低,所以X射线感光胶片上对应于缺欠的部位影像黑度低。C、高,所以X射线感光胶片上对应于缺欠的部位影像黑度高。D、高,所以X射线感光胶片上对应于缺欠的部位影像黑度低。

单选题被检者闭目,检查者以手指或棉签轻触被检者皮肤某处,让被检者用手指指出被触部位是(  )。ABCDE

单选题在进行射线检测时,有缺陷部位的射线强度()无缺陷部位,底片暗房处理后的黑度较大。A低于B等于C高于

单选题射线照相的依据是()A射线在穿透物质过程中会与物质发生相互作用,因吸收和散射而使其强度减弱B强度衰减程度取决于物质的衰减系数和在物质中穿越的厚度C底片上各点的黑化程度取决于射线照射量,由于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同,底片上相应部位就会出现黑度差异D以上都对

判断题射线照相检测和超声检测可用于检测被检工件内部和表面的缺陷。A对B错

多选题连续X线透过被照体后使()A射线平均能量降低B射线平均能量提高C射线平均能量接近其最高能量D低能光子比高能光子更多地被吸收E高能光子比低能光子更多地被吸收

单选题在什么情况下涡流检测系统适合于划分质量等级,例如:“质量数”?()A被检产品无缺陷;B被检产品允许有缺陷部位;C被检产品质量低劣D被检产品质量不稳定

单选题射线照相上两个部位的密度差叫做()。A胶片的对比度B射线照相的对比度C被检物体的对比度D射线照相的清晰度

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单选题衰减系数μ与()无关。A射线源的种类或管电压B被检材料的种类和密度CX光管阳极靶的原子序数D被检材料的原子序数

判断题射线照相检测较适用于检测被检工件内部的面积型缺陷。A对B错