射线通过物质时的衰减取决于()。A、物质的原子序数、密度和厚度B、物质的杨氏模量C、物质的泊松比D、物质的晶粒度

射线通过物质时的衰减取决于()。

  • A、物质的原子序数、密度和厚度
  • B、物质的杨氏模量
  • C、物质的泊松比
  • D、物质的晶粒度

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X线衰减特点的叙述,错误的是A.X线强度与距离平方成反比B.X线通过物质后质和量都发生改变C.X线通过物质时低能光子被吸收的少D.X线通过物质后射线平均能量提高E.X线的能量影响衰减

射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时()产生的物理作用。A、射线能量的衰减B、射线强度的衰减C、射线性质的转换D、以上都是

射线照相的依据是()A、射线在穿透物质过程中会与物质发生相互作用,因吸收和散射而使其强度减弱B、强度衰减程度取决于物质的衰减系数和在物质中穿越的厚度C、底片上各点的黑化程度取决于射线照射量,由于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同,底片上相应部位就会出现黑度差异D、以上都对

关于X射线穿过物体时的衰减规律叙述正确的是().A、X射线能量越高衰减越少。B、物质的密度越大,X射线衰减越多。C、物质的每克电子数越多,X射线衰减越少。D、物质的厚度越厚,X射线衰减越少。E、物质的原子序数越高,X射线衰减越多。

射线通过物质时的衰减取决与()A、物质的原子序数、密度和厚度B、物质的杨氏模量C、物质的泊松比D、物质的晶粒度

γ射线通过被检查物质时,其强度衰减取决于()A、物体的弹性系数B、物体的原子序数C、密度D、厚度

射线通过物质时的衰减取决于()A、物质的泊松比B、物质的原子序数C、物质的密度D、物质的厚度

X射线通过物质时将发生衰减,射线衰减系数随波长的变化而变化,波长越长,射线衰减系数越大。

γ射线通过被检查物质时,其强度的衰减与被检查物质的()有关A、导电性B、导磁性C、导热性D、原子序数

γ射线通过被检查物质时,其强度衰减取决于()A、物体的弹性系数B、物体的粘滞性C、物体的传热性D、物体的原子序数、密度以及厚度

射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时产生的物理作用是射线能量的衰减。

当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后,表示射线强度衰减规律的公式为I=I0e-μd。

当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后,表示射线强度衰减规律的公式为()。

γ射线通过被检查物质,强度衰减取决于()。A、 物体的弹性系数B、 物体的粘滞性C、 物体的传热性D、 物体的原子序数、密度以及厚度

射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时产生的()物理作用。A、 射线能量的衰减B、 射线强度的衰减C、 射线性质的转换D、 射线强度的增加

单选题当射线通过厚度为X的物质后,射线强度的衰减规律是:()(式中:μ-线吸收系数[衰减系数];e-自然对数的底;I0-射线原有的强度;I-射线通过物质后的强度)AI=I0eμxBI=I0e-μxCI0=Ie-μxDI=I0e-2μx

单选题射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时()产生的物理作用。A射线能量的衰减B射线强度的衰减C射线性质的转换D以上都是

判断题X射线通过物质时将发生衰减,射线衰减系数随波长的变化而变化,波长越长,射线衰减系数越大。A对B错

单选题γ射线通过被检查物质时,其强度衰减取决于()A物体的弹性系数B物体的粘滞性C物体的传热性D物体的原子序数、密度以及厚度

单选题射线照相的依据是()A射线在穿透物质过程中会与物质发生相互作用,因吸收和散射而使其强度减弱B强度衰减程度取决于物质的衰减系数和在物质中穿越的厚度C底片上各点的黑化程度取决于射线照射量,由于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同,底片上相应部位就会出现黑度差异D以上都对

单选题γ射线通过被检查物质,强度衰减取决于()。A物体的弹性系数B物体的粘滞性C物体的传热性D物体的原子序数、密度以及厚度

多选题关于X射线穿过物体时的衰减规律叙述正确的是().AX射线能量越高衰减越少。B物质的密度越大,X射线衰减越多。C物质的每克电子数越多,X射线衰减越少。D物质的厚度越厚,X射线衰减越少。E物质的原子序数越高,X射线衰减越多。

单选题射线通过一个物体后产生了衰减,与衰减强度大小无关的是(  )。A每克电子数B源射线的能量大小C物质的密度D物质的原子序数E物体的重量

单选题射线通过物质时的衰减取决与()A物质的原子序数、密度和厚度B物质的杨氏模量C物质的泊松比D物质的晶粒度

单选题射线通过物质时的衰减取决于()。A物质的原子序数、密度和厚度B物质的杨氏模量C物质的泊松比D物质的晶粒度

多选题射线通过物质时的衰减取决于()A物质的泊松比B物质的原子序数C物质的密度D物质的厚度

多选题γ射线通过被检查物质时,其强度衰减取决于()A物体的弹性系数B物体的原子序数C密度D厚度