在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）A、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大B、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大C、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小D、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小
在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）
- A、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大
- B、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大
- C、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小
- D、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小
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RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应（）A、缩小射线至底片的距离，且将底片紧贴试件B、增加射线至底片的距离，且将底片紧贴试件C、缩小射线至底片的距离，且将底片远离试件D、增加射线至底片的距离，且将底片远离试件
透照厚试件时，底片可识别的象质计最小线径为0.32mm，此时散射比n为2，然后利用铅阑和屏蔽板，使散射比减为0.5。为拍照黑度相同的底片，则曝光时间应为原来的几倍？又底片上同一线径的影象对比度为原来的几倍？（假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变）
实时射线检测法（RealTimeRT）即利用射线穿过试件而在荧光屏上成像，其气孔处的影像为（）A、与底片成像相同，黑度较大B、与底片成像相同，黑度较小C、与底片成像不同，黑度较大D、与底片成像不同，黑度较小
单选题在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）A其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大B其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大C其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小D其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小
问答题透照某试件时，放在焦点侧试件表面的象质计最小可见线径为0.25mm，以此作为底片1，此时散射比n1=1.4，然后用铅光阑和屏蔽板时散射比n2=0.5，再摄一张同黑度的底片，以此作为底片2，假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变。底片2上同一直径的金属丝影象对比度是底片1上的几倍？
单选题实时射线检测法（RealTimeRT）即利用射线穿过试件而在荧光屏上成像，其气孔处的影像为（）A与底片成像相同，黑度较大B与底片成像相同，黑度较小C与底片成像不同，黑度较大D与底片成像不同，黑度较小
问答题透照厚试件时，底片可识别的象质计最小线径为0.32mm，此时散射比n为2，然后利用铅阑和屏蔽板，使散射比减为0.5。为拍照黑度相同的底片，则曝光时间应为原来的几倍？又底片上同一线径的影象对比度为原来的几倍？（假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变）