对有加强层的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应()A.保持灵敏度不变B.适当提高灵敏度C.增加大折射角探头探测D.以上B和C
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷B.与探测面倾斜的缺陷C.垂直于探测面的缺陷D.不能用斜探头检测的缺陷
板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方式是()A.斜平行扫查B.串列扫查C.双晶斜探头前后扫查D.交叉扫查
对有余高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）A、保持灵敏度不变B、适当提高灵敏度C、增加大K值探头探测D、以上B和C
对有加强层的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）A、保持灵敏度不变B、适当提高灵敏度C、增加大折射角探头探测D、以上b和c
板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方式是（）A、斜平行扫查B、串列扫查C、双晶斜探头前后扫查D、交叉扫查
板厚100mm以上窄间隙焊缝作超声检验时，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方法时（）A、斜平行扫查B、串列扫查C、双晶斜探头前后扫查D、交叉扫查
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
在对接焊接接头超声检测中，斜探头平行于焊缝方向扫查目的是检测（）。A、 横向裂纹B、 夹渣C、 纵向缺陷D、 以上都对
斜探头在磨平的焊缝上进行扫查，主要用于检测（）A、纵向缺陷B、横向缺陷C、表面缺陷D、以上都是
检查焊缝中横向裂纹的最好方法是（）A、探头在前后移动的同时兼作10-15°的摆动B、选用折射角较小的探头C、应使用转动式扫查D、把焊缝打磨平，在焊缝上作平行于焊缝的扫查
用直探头探测焊缝两侧母材的目的是（）A、探测热影响区裂缝B、探测可能影响斜探头探测结果的分层C、提高焊缝两侧母材验收标准，以保证焊缝质量D、以上都对
对接焊缝超探时，探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测（）A、横向裂纹B、夹渣C、纵向缺陷D、以上都不对
在对接焊缝超探时，探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测：（）。A、横向裂缝B、夹渣C、纵向缺陷D、以上都对
对有加强高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）。A、保持灵敏度不变B、适当提高灵敏度C、增加大K值探头探测D、以上B和C
使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A、探伤灵敏度B、扫查密度C、定位精度D、定量精度
单选题检查焊缝中横向裂纹的最好方法是（）A探头在前后移动的同时兼作10-15°的摆动B选用折射角较小的探头C应使用转动式扫查D把焊缝打磨平，在焊缝上作平行于焊缝的扫查
单选题对有余高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）A保持灵敏度不变B适当提高灵敏度C增加大K值探头探测D以上B和C
单选题斜探头在磨平的焊缝上进行扫查，主要用于检测（）A纵向缺陷B横向缺陷C表面缺陷D以上都是
单选题在对对接焊缝进行超声波检测时，探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测：（）A横向裂纹B夹渣C纵向缺陷D以上都对
单选题板厚100mm以上窄间隙焊缝作超声检验时，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方法时（）A斜平行扫查B串列扫查C双晶斜探头前后扫查D交叉扫查
单选题在对接焊缝超探时，探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测：（）。A横向裂缝B夹渣C纵向缺陷D以上都对
单选题板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方式是（）A斜平行扫查B串列扫查C双晶斜探头前后扫查D交叉扫查
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A平行于探测面的缺陷B与探测面倾斜的缺陷C垂直于探测面的缺陷D不能用斜探头检测的缺陷
单选题在对接焊接接头超声检测中，斜探头平行于焊缝方向扫查目的是检测（）。A 横向裂纹B 夹渣C 纵向缺陷D 以上都对
单选题使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A探伤灵敏度B扫查密度C定位精度D定量精度
单选题对有加强高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）A保持灵敏度不变B适当提高灵敏度C增加大K值探头探测D以上B和C