CSK-1A试块91底面的( )纵波回波时间相当于R100弧面的一次横波回波的时间。A、一次B、二次C、三次D、四次
在CSK-1A试块上测试探头入射点，测试结果误差较大是因为()。A、未找到圆弧面最高反射波B、耦合差异大C、探头压力差异大D、上述都有
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标？
CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。
70度探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔D、在半圆试块上测定
通用探伤仪的水平线性误差测定应（）。A、在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面B、在CSK-1A试块探测厚度100mm的底面C、在CSK-1A试块探测厚度91mm的底面D、在CSK-1A试块探测半径50mm的圆弧面
WGT—1试块，R40mm的圆弧面，可用于测定斜探头的入射点和（）。
CSK-1A试块R50、R100阶梯圆弧面同时获得2个反射回波用于校正（）。A、横波扫描速度B、纵波扫描速度C、分辨率D、入射点
70°探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定
CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。A、直探头盲区B、直探头穿透能力C、直探头盲区和穿透能力D、上述都不能测
ⅡW试块的厚度（）mm，宽度（）mm，长度为200mm可用来校准探伤时的测定范围，用R100的弧面和R100圆心处的刻槽可以测定斜探头的（）和（）。
CSK-1A试块R100圆弧面可测定（）。A、斜探头入射点B、横波探测范围C、横波声速D、上述都可以
0°探头分辨率的测定应使用（）。A、CSK-1A试块85、91台阶底面B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面C、WGT-1试块D、WGT-2试块
CSK-1A试块属于（）。A、标准试块B、对比试块C、实作试块D、参考试块
填空题WGT—1试块，R40mm的圆弧面，可用于测定斜探头的入射点和（）。
单选题0°探头分辨率的测定应使用（）。ACSK-1A试块85、91台阶底面BCSK-1A试块φ40、44圆弧面CWGT-1试块DWGT-2试块
单选题CSK-1A试块91底面的（）纵波回波时间相当于R100弧面的一次横波回波的时间。A一次B二次C三次D四次
单选题CSK-1A试块R100圆弧面可测定（）。A斜探头入射点B横波探测范围C横波声速D上述都可以
单选题CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。A直探头盲区B直探头穿透能力C直探头盲区和穿透能力D上述都不能测
填空题ⅡW试块的厚度（）mm，宽度（）mm，长度为200mm可用来校准探伤时的测定范围，用R100的弧面和R100圆心处的刻槽可以测定斜探头的（）和（）。
问答题用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标？
单选题通用探伤仪的水平线性误差测定应（）。A在CSK-1A试块探测厚度25mm的底面B在CSK-1A试块探测厚度100mm的底面C在CSK-1A试块探测厚度91mm的底面D在CSK-1A试块探测半径50mm的圆弧面
单选题70°探头折射角测定应（）。A在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D在半圆试块上测定
判断题CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。A对B错
单选题CSK-1A试块R50、R100阶梯圆弧面同时获得2个反射回波用于校正（）。A横波扫描速度B纵波扫描速度C分辨率D入射点
单选题CSK-1A试块属于（）。A标准试块B对比试块C实作试块D参考试块
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A 直探头的的远场分辨力B 斜探头的K值C 斜探头的入射点D 斜探头的声束偏斜角