单选题考虑检测灵敏度补偿的理由是:()A被检工件厚度太大B耦合剂有较大声能损耗C工件与试块材质、表面粗糙度有差异D工件底面与检测面不平行

单选题
考虑检测灵敏度补偿的理由是:()
A

被检工件厚度太大

B

耦合剂有较大声能损耗

C

工件与试块材质、表面粗糙度有差异

D

工件底面与检测面不平行


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

选择检测剂时,首先考虑的是灵敏度。

用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时,下列哪种说法正确()A、可以不考虑探伤面的声能损失补偿B、可以不考虑材质衰减的补偿C、可以不使用校正试块D、以上都是

用底波法校准锻件检测灵敏度与实际扫查在同一面上,可不用考虑表面耦合补偿。

利用试块法校准检测灵敏度的优点是()。A、 校准方法简单B、 适用对缺陷小于3N的锻件C、 可以克服检测面形状对灵敏度的影响D、 不必考虑材质差异

以工件底面作为灵敏度校正基准时可以()。A、不考虑探伤面耦合差的补偿B、不考虑材质衰减的补偿C、不必使用试块D、以上都对

用底波调节法校准锻件检测灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的。 ()。     A、 可不考虑检测耦合差补偿B、 缺陷定量可采用计算法或AVG曲线法C、 可不使用试块D、 缺陷定量可不考虑衰减差修正

考虑灵敏度补偿的理由是()A、被检工件厚度太大B、工件底面与探测面不平行C、耦合剂有较大声能损耗D、工件与试块材质,表面光洁度有差异

考虑检测灵敏度补偿的理由是()。A、 被检工件厚度太大B、 工件底面与检测面不平行C、 耦合剂有较大声能损耗D、 工件与试块材质、表面光洁度有差异

在超声波检测法中,用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时可以:()A、不考虑探伤面的声能损失补偿B、不考虑材质衰减的补偿C、不使用校正试块D、以上都是

选取内窥镜视场角度时的考虑因素包括()A、检测区尺寸B、检测区的纵深C、检测灵敏度D、以上都是

超声探伤,被检工件厚度大,应考虑灵敏度补偿。

采用试块法调节探伤灵敏度时,应考虑进行()补偿和材质衰减补偿。

超声检测中考虑灵敏度补偿可能的理由是()。A、被检工件厚度太大B、工件底面与探测面不平行C、耦合剂有较大声能损耗D、曲面工件E、工件与试块材质、表面状态不同

以工件底面作为灵敏度校正基准,可以()A、不考虑探测面的耦合差补偿B、不考虑材质衰减差补偿C、不必使用校正试块D、以上都是

单选题用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时,下列哪种说法正确()A可以不考虑探伤面的声能损失补偿B可以不考虑材质衰减的补偿C可以不使用校正试块D以上都是

多选题在超声波检测法中,用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时,可以()。A不考虑探伤面的声能损失补偿B不考虑材质衰减的补偿C不使用校正试块D以上都不行

单选题在超声波检测法中,用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时可以:()A不考虑探伤面的声能损失补偿B不考虑材质衰减的补偿C不使用校正试块D以上都是

判断题超声探伤,被检工件厚度大,应考虑灵敏度补偿。A对B错

单选题用底波调节法校准锻件检测灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的。 ()。A 可不考虑检测耦合差补偿B 缺陷定量可采用计算法或AVG曲线法C 可不使用试块D 缺陷定量可不考虑衰减差修正

单选题以工件底面作为灵敏度校正基准时可以()。A不考虑探伤面耦合差的补偿B不考虑材质衰减的补偿C不必使用试块D以上都对

单选题以工件底面作为灵敏度校正基准,可以()A不考虑探测面的耦合差补偿B不考虑材质衰减差补偿C不必使用校正试块D以上都是

单选题考虑检测灵敏度补偿的理由是()。A 被检工件厚度太大B 工件底面与检测面不平行C 耦合剂有较大声能损耗D 工件与试块材质、表面光洁度有差异

填空题采用试块法调节探伤灵敏度时,应考虑进行()补偿和材质衰减补偿。

多选题超声检测中考虑灵敏度补偿可能的理由是()。A被检工件厚度太大B工件底面与探测面不平行C耦合剂有较大声能损耗D曲面工件E工件与试块材质、表面状态不同

单选题考虑灵敏度补偿的理由是()A被检工件厚度太大B工件底面与探测面不平行C耦合剂有较大声能损耗D工件与试块材质,表面光洁度有差异

判断题用底波法校准锻件检测灵敏度与实际扫查在同一面上,可不用考虑表面耦合补偿。A对B错

单选题选取内窥镜视场角度时的考虑因素包括()A检测区尺寸B检测区的纵深C检测灵敏度D以上都是