THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
THDS-A（哈科所）探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是（）。A、热靶加热不足B、曲线斜率故障C、探头输出溢出D、热靶加热过快E、起始温度异常
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。
THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
THDS-A（哈科所）探测站造成探头噪声大的原因有（）。A、探头故障B、探头电源波动C、探头电缆接触不良D、板温读取错误E、环温读取错误
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A、探头出现问题B、无法正确测曲线C、环温出现异常D、影响轴温测温精度E、不影响轴温测温精度
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
THDS-A（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（）。A、半自动B、自动C、手动D、固定曲线E、线性折算
THDS-A（哈科所）探测站的热敏直流探头静态电压值约为1V，轴温与板温相同时探头输出电压值约为（）。A、1VB、-10VC、0VD、都有可能
THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A、板温B、环温C、靶温D、光子元温E、制冷温度
多选题THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A板温B环温C靶温D光子元温E制冷温度
多选题THDS-A（哈科所）探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是（）。A热靶加热不足B曲线斜率故障C探头输出溢出D热靶加热过快E起始温度异常
判断题THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A对B错
多选题THDS-A（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（）。A半自动B自动C手动D固定曲线E线性折算
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A对B错
单选题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A热敏探头和交流探头B热敏探头和光子探头C直流探头和交流探头D光子探头和交流探头
单选题THDS-A（哈科所）探测站用示波器测量探头噪声时，光子探头噪声≥（）时需更换。A100mVB95mVC90mVD80mV
判断题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种。A对B错
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头噪声大的原因有（）。A探头故障B探头电源波动C探头电缆接触不良D板温读取错误E环温读取错误
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误
单选题THDS-A（哈科所）探测站的热敏直流探头静态电压值约为1V，轴温与板温相同时探头输出电压值约为（）。A1VB-10VC0VD都有可能
单选题THDS-A（哈科所）探测站标准配置下探头位置是（）。A内光子、外热敏B内热敏、外光子C双热敏D双光子
多选题THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温
单选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A测温误差大B测温良好C测温稳定D测温不变