哪些电子信号用于SEM测试分析样品形貌?其中哪个是决定分辨率的主要因素?

哪些电子信号用于SEM测试分析样品形貌?其中哪个是决定分辨率的主要因素?


参考答案和解析
ABCD

相关考题:

对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM)

仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是A、背散射电子B、二次电子C、吸收电子D、透射电子E、俄歇电子

SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的( )。A.方解石B.斜长石C.角闪布D.石英

下面有关基于风险的方法的描述哪个是不正确的()A、识别的风险经常用于决定哪些需要更多测试,哪些可以减少测试B、识别的风险经常用于决定多少测试服务C、识别的风险经常用于决定使用何种测试工具D、识别的风险经常用于决定使用何种测试技术

扫描电子显微镜主要用于观察样品的表面形貌,常常采用CO2对生物样品进行干燥。为了得到良好的表面导电性,样品在观察前还需要()。

扫描电子显微镜主要用于表面形貌的观察,在失效分析工作中具有非常重要的作用。它的分辨率高,可达()nm。A、0.1~0.2nmB、0.5~0.8nmC、3~4nmD、10~20nm

下列哪些SEM数据可以通过网站分析工具监测到?()A、站外投放的SEM关键字B、站外投放的SEM广告单元C、站外投放的SEM广告计划D、触发SEM关键字时用户搜索的搜索词

频谱分析仪是测试电子产品频谱脉冲图像的一种设备,可以测试手机的高频信号、低频信号,测试精度远远高于示波器。

简要分析影响织物拉伸强力测试结果的主要因素有哪些?

模具产生磨损的因素有哪些?其中哪个是主要因素?

SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的()。A、方解石B、斜长石C、角闪布D、石英

共晶组织形貌主要有哪些?决定共晶组织形貌的主要因素是什么?

单选题SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的(  )。A方解石B斜长石C角闪布D石英碎砾

问答题共晶组织形貌主要有哪些?决定共晶组织形貌的主要因素是什么?

单选题SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的()。A方解石B斜长石C角闪布D石英

填空题XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、()、()、电子探针分析和差热分析分析方法。

多选题下面关于电镜分析叙述中正确的是()A电镜只能观察形貌;B电镜可观察形貌、成分分析、结构分析和物相鉴定;C电镜分析在材料研究中广泛应用,是因为放大倍数高,与分辨率无关;D电镜在材料研究中广泛应用,是因为放大倍数高,分辨率高。

问答题电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?

问答题模具产生磨损的因素有哪些?其中哪个是主要因素?

填空题扫描电子显微镜主要用于观察样品的表面形貌,常常采用CO2对生物样品进行干燥。为了得到良好的表面导电性,样品在观察前还需要()。

单选题下面有关基于风险的方法的描述哪个是不正确的()A识别的风险经常用于决定哪些需要更多测试,哪些可以减少测试B识别的风险经常用于决定多少测试服务C识别的风险经常用于决定使用何种测试工具D识别的风险经常用于决定使用何种测试技术

多选题在扫描电镜分析中()A成分像能反映成分分布信息,形貌像和二次电子像反映形貌信息B所有扫描电镜像,只能反映形貌信息C形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮,平坦和凹谷处最暗D扫描电镜分辨率比透射电镜高

填空题电子与物质相互作用,可产生(),(),(),特征X射线等用于观测样品形貌或成分的主要信号。

单选题电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是()A背散射电子B俄歇电子C特征X射线

单选题表面形貌分析的手段包括()AX射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)BSEM和透射电镜(TEM)C波谱仪(WDS)和X射线光电子谱仪(XPS)D扫描隧道显微镜(STM)和SEM

单选题扫描电子显微镜主要用于表面形貌的观察,在失效分析工作中具有非常重要的作用。它的分辨率高,可达()nm。A0.1~0.2nmB0.5~0.8nmC3~4nmD10~20nm

单选题仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是()。A背散射电子B二次电子C吸收电子D透射电子E俄歇电子

单选题电子显微分析与其它的形貌、结构和化学组成分析方法相比不具有的特点()A具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体结构和化学成分B为一种微区分析方法,具有很高的分辨率,成像分辨率达到0.2~0.3nm(TEM),可直接分辨原子,能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析C各种仪器日益向多功能、综合性方向发展D操作复杂