关于磁化电流，以下说法正确的是A．磁化后的抗磁质和顺磁质的表面都会出现磁化电流分布B．抗磁质和顺磁质的表面都存在磁化电流分布C．磁化后只有顺磁质的表面会出现磁化电流分布，抗磁质不会D．以上说法都不对
关于磁化电流，以下说法正确的是
A．磁化后的抗磁质和顺磁质的表面都会出现磁化电流分布
B．抗磁质和顺磁质的表面都存在磁化电流分布
C．磁化后只有顺磁质的表面会出现磁化电流分布，抗磁质不会
D．以上说法都不对
参考答案和解析
磁化后的抗磁质和顺磁质的表面都会出现磁化电流分布
相关考题：
关于横向磁化矢量的描述，错误的是A、在磁共振过程中受射频激励产生的横向磁化矢量与主磁场B垂直B、横向磁化矢量围绕主磁场B方向旋进C、横向磁化矢量Mxy变化使位于被检体周围的接收线圈产生感应电流D、感应电流大小与横向磁化矢量成反比E、感应电流大小与横向磁化矢量成正比
下列关于磁写的叙述中，正确的是（）A、它出现于磁导率不同的分界线上B、由被磁化的试件与未磁化的试件接触而引起C、由于磁化磁场过强而引起D、由于磁化电流太大而引起E、由于被磁化的试件相互接触而造成F、E和B
以下关于电缆平行磁化法的叙述，正确的是：（）A、电缆平行磁化法不会烧伤工件B、电缆平行于焊缝放置，可检出焊缝中横向裂纹缺陷C、返回电流的电缆应尽量远离磁化电缆以免磁场相互抵消D、由于磁力线的一部分在空气中通过，因而磁场大大减弱，应用时要注意检测可靠性
下列有关磁化电流方向与缺陷方向之间关系的正确叙述是（）A、直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最容易探测到B、直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最容易探测到C、直接通电磁化时，与电流方向无关，任何方向的缺陷都能探出D、用线圈法磁化时，与线圈内电流方向垂直的缺陷最容易探出
下列关于磁化电流方向与缺陷方向关系的叙述中，正确的是（）A、直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最易于检出B、直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最易于检出C、直接通电磁化时，与电流方向无关，任何方向的缺陷都可以检出D、用线圈法磁化时，与线圈内电流方向垂直的缺陷最易于检出
下列关于磁化电流方向与缺陷方向关系叙述正确的是（）。A、直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最容易检出B、直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最容易检出C、直接通电磁化时，产生周向磁场任何方向的缺陷均可检出D、直接通电磁化时，近表面的缺陷容易检出
以下关于磁化电流的叙述，错误的是（）A、对于三相全波整流电，电流表指示的是平均值；B、交变电流通过导体时，因电磁感应而产生涡流，其方向在导体轴线附近与原电流方向相反；C、采用三相全波整流电时，周向和纵向磁化的工序间一般不需要退磁；D、冲击电流只适应于剩磁法。
轮轴（轮对）、车轴磁粉探伤机，周向磁化电流与纵向磁化磁势应符合以下技术指标（）。A、周向额定磁化电流不小于3000AB、周向额定磁化电流不小于2400AC、纵向额定磁化磁势不小于24000ATD、纵向额定磁化磁势不小于12000AT
单选题以下关于磁化电流的叙述，错误的是（）A对于三相全波整流电，电流表指示的是平均值；B交变电流通过导体时，因电磁感应而产生涡流，其方向在导体轴线附近与原电流方向相反；C采用三相全波整流电时，周向和纵向磁化的工序间一般不需要退磁；D冲击电流只适应于剩磁法。
单选题下列关于磁化电流方向与缺陷方向关系叙述正确的是（）。A直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最容易检出B直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最容易检出C直接通电磁化时，产生周向磁场任何方向的缺陷均可检出D直接通电磁化时，近表面的缺陷容易检出
单选题下列有关磁化电流方向与缺陷方向之间关系的正确叙述是（）A直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最容易探测到B直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最容易探测到C直接通电磁化时，与电流方向无关，任何方向的缺陷都能探出D用线圈法磁化时，与线圈内电流方向垂直的缺陷最容易探出
多选题轮轴（轮对）、车轴磁粉探伤机，周向磁化电流与纵向磁化磁势应符合以下技术指标（）。A周向额定磁化电流不小于3000AB周向额定磁化电流不小于2400AC纵向额定磁化磁势不小于24000ATD纵向额定磁化磁势不小于12000AT
单选题下列关于磁化电流方向与缺陷方向关系的叙述中，正确的是（）A直接通电磁化时，与电流方向垂直的缺陷最易于检出B直接通电磁化时，与电流方向平行的缺陷最易于检出C直接通电磁化时，与电流方向无关，任何方向的缺陷都可以检出D用线圈法磁化时，与线圈内电流方向垂直的缺陷最易于检出
单选题关于横向磁化矢量的描述，错误的是（ ）。A在磁共振过程中受射频激励产生的横向磁化矢量与主磁场B0垂直B横向磁化矢量围绕主磁场B0方向旋进C横向磁化矢量Mxy变化使位于被检体周围的接收线圈产生感应电流D感应电流大小与横向磁化矢量成反比E感应电流大小与横向磁化矢量成正比
单选题下列关于磁写的叙述中，正确的是（）A它出现于磁导率不同的分界线上B由被磁化的试件与未磁化的试件接触而引起C由于磁化磁场过强而引起D由于磁化电流太大而引起E由于被磁化的试件相互接触而造成FE和B