光纤衰减常数的基本测试方法为()A、剪断法B、OTDR法C、插入法D、4P法

光纤衰减常数的基本测试方法为()

  • A、剪断法
  • B、OTDR法
  • C、插入法
  • D、4P法

相关考题:

G.652光纤在波长1310nm的衰减常数技术指标为( ), G.655光纤在波长1550nm的衰减常数技术指标为( )。

光缆到施工现场时,要测试光纤衰减常数和光纤长度。

光纤和以往的铜导线相比有本质的区别,因此,光纤测试方法和铜质电缆的测试方法是不一样的。

单模光纤模场直径的基准测试方法为(),截止波长的基准测试方法(),色散特性的基准测试方法为()。

对光纤或光纤系统,通常的测试方法有连通性测试、端一端损耗测试、收发功率测试及反射损耗测试4种。()

光纤衰减常数的常用测量方法有:()A、近场扫描法B、剪断法C、插入损耗法D、背向散射法

光缆单盘测试的步骤正确的有()。A、对仓库内的备用光缆的规格、程式数量进行清点和外观检查、发现异常应重点检查B、核对单盘的规格、程式和制造长度应符合订货规定的要求C、光缆现场采用测试仪检验测试光纤衰减常数、光纤长度D、光缆金属护套对地绝缘应小于10000MΩ*KM

光缆规格代号有:()、光纤类别、光纤尺寸、使用波长、衰减常数、模式带宽、适用温度。[T/]

()属于光纤常用参数。A、衰减常数B、辐射C、驻波比D、频率

光缆光纤衰减常数()。A、≤0.2dB/KmB、≤0.3dB/KmC、≤0.4dB/KmD、≤0.5dB/Km

在测量光纤衰减常数时,剪断法是基准方法。

利用光纤脉冲响应来测试光纤带宽的方法为()。A、频域法B、时域法C、聚焦法D、计算法

光缆单盘检验不包括的项目()?A、核对单盘光缆的规格和制造长度B、核对光缆端别C、测试光纤衰减常数和光纤长度D、测试光纤的色散

多模光纤数值孔径的基准测试方法为(),多模光纤和单模光纤折射率分布测试方法为()。

光纤的损耗主要包括:()、散射损耗和弯曲损耗,决定光纤衰减常数的损耗通常是前两种。

决定光纤衰减常数的损耗主要是()损耗和()损耗。

后向散射测试方法可以测试()项目。A、光纤色散B、光纤衰减C、光纤长度D、数值孔径

光缆的单盘测试:开箱判别光缆的A、B端,并在光缆盘上做好标志,用OTDR进行测试光缆的衰减常数、光纤总损耗、光纤长度,光纤的纽绞系数一般为()。A、7/1000B、8/1000C、7/1100D、8/1100

光缆现场检验测试光纤衰减常数,光纤长度,应按设计规定测试项目进行

光缆单盘测试,光纤衰减常数、光纤长度均要求逐盘、逐纤()测试。

光缆单盘测试:一般只测光纤衰减常数和光纤长度,测试均要求逐盘逐纤100%测试,测试完毕应密封光缆端头。单盘光缆测试完毕,可随机抽几盘光缆进行熔接,检验接续损耗。

填空题光缆单盘测试,光纤衰减常数、光纤长度均要求逐盘、逐纤()测试。

判断题光缆单盘测试:一般只测光纤衰减常数和光纤长度,测试均要求逐盘逐纤100%测试,测试完毕应密封光缆端头。单盘光缆测试完毕,可随机抽几盘光缆进行熔接,检验接续损耗。A对B错

填空题光缆规格代号有:()、光纤类别、光纤尺寸、使用波长、衰减常数、模式带宽、适用温度。[T/]

单选题()属于光纤常用参数。A衰减常数B辐射C驻波比D频率

判断题光缆到施工现场时,要测试光纤衰减常数和光纤长度。A对B错

多选题光纤衰减常数的常用测量方法有:()A近场扫描法B剪断法C插入损耗法D背向散射法