光纤衰减常数的基本测试方法为（）A、剪断法B、OTDR法C、插入法D、4P法

光纤衰减常数的基本测试方法为（）

  • A、剪断法
  • B、OTDR法
  • C、插入法
  • D、4P法

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G.652光纤在波长1310nm的衰减常数技术指标为( ), G.655光纤在波长1550nm的衰减常数技术指标为( )。
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光缆到施工现场时，要测试光纤衰减常数和光纤长度。
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光纤和以往的铜导线相比有本质的区别，因此，光纤测试方法和铜质电缆的测试方法是不一样的。
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单模光纤模场直径的基准测试方法为（），截止波长的基准测试方法（），色散特性的基准测试方法为（）。
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对光纤或光纤系统，通常的测试方法有连通性测试、端一端损耗测试、收发功率测试及反射损耗测试4种。（）
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光纤衰减常数的常用测量方法有：（）A、近场扫描法B、剪断法C、插入损耗法D、背向散射法
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光缆单盘测试的步骤正确的有（）。A、对仓库内的备用光缆的规格、程式数量进行清点和外观检查、发现异常应重点检查B、核对单盘的规格、程式和制造长度应符合订货规定的要求C、光缆现场采用测试仪检验测试光纤衰减常数、光纤长度D、光缆金属护套对地绝缘应小于10000MΩ*KM
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光缆规格代号有：（）、光纤类别、光纤尺寸、使用波长、衰减常数、模式带宽、适用温度。[T/]
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（）属于光纤常用参数。A、衰减常数B、辐射C、驻波比D、频率
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光缆光纤衰减常数（）。A、≤0.2dB/KmB、≤0.3dB/KmC、≤0.4dB/KmD、≤0.5dB/Km
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在测量光纤衰减常数时，剪断法是基准方法。
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利用光纤脉冲响应来测试光纤带宽的方法为（）。A、频域法B、时域法C、聚焦法D、计算法
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光缆单盘检验不包括的项目（）？A、核对单盘光缆的规格和制造长度B、核对光缆端别C、测试光纤衰减常数和光纤长度D、测试光纤的色散
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多模光纤数值孔径的基准测试方法为（），多模光纤和单模光纤折射率分布测试方法为（）。
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光纤的损耗主要包括：（）、散射损耗和弯曲损耗，决定光纤衰减常数的损耗通常是前两种。
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决定光纤衰减常数的损耗主要是（）损耗和（）损耗。
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后向散射测试方法可以测试（）项目。A、光纤色散B、光纤衰减C、光纤长度D、数值孔径
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光缆的单盘测试：开箱判别光缆的A、B端，并在光缆盘上做好标志，用OTDR进行测试光缆的衰减常数、光纤总损耗、光纤长度，光纤的纽绞系数一般为（）。A、7/1000B、8/1000C、7/1100D、8/1100
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光缆现场检验测试光纤衰减常数，光纤长度，应按设计规定测试项目进行
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光缆单盘测试，光纤衰减常数、光纤长度均要求逐盘、逐纤（）测试。
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光缆单盘测试：一般只测光纤衰减常数和光纤长度，测试均要求逐盘逐纤100%测试，测试完毕应密封光缆端头。单盘光缆测试完毕，可随机抽几盘光缆进行熔接，检验接续损耗。
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填空题光缆单盘测试，光纤衰减常数、光纤长度均要求逐盘、逐纤（）测试。
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判断题光缆单盘测试：一般只测光纤衰减常数和光纤长度，测试均要求逐盘逐纤100%测试，测试完毕应密封光缆端头。单盘光缆测试完毕，可随机抽几盘光缆进行熔接，检验接续损耗。A对B错
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填空题光缆规格代号有：（）、光纤类别、光纤尺寸、使用波长、衰减常数、模式带宽、适用温度。[T/]
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单选题（）属于光纤常用参数。A衰减常数B辐射C驻波比D频率
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判断题光缆到施工现场时，要测试光纤衰减常数和光纤长度。A对B错
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多选题光纤衰减常数的常用测量方法有：（）A近场扫描法B剪断法C插入损耗法D背向散射法
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