超声波采用多种波型以及各种探头作不同方向的探测，能探出工件内部和表面各种( )的缺陷。A、方向B、方面C、取向D、方形
一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，这种仪器显示是()A.A型显示B.B型显示C.C型显示D.以上都不是
超声波探伤是利用超声振动以波动形式在工件内部传播，当工件内存在缺陷时，超声波则被反射回来，凭借仪器荧光屏显示判断缺陷的图形（大小）和位置。
超声波探伤的原理是：工件有缺陷时，超声波一部分在缺陷处反射，另一部分在工件底部反射的脉冲波形，与无缺陷时直接在工件底部反射的脉冲波形不同。
一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，这种仪器显示是（）A、A型显示B、B型显示C、C型显示D、以上都不是
工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A、垂直B、平行C、倾斜45°D、都可以
在超声检测中，当缺陷的取向与超声波入射方向（）时，能获得最大的超声波反射。
超声波检测时要求声速方向与缺陷取向（）为宜A、垂直B、平行C、倾斜45°D、以上都可以
被检件中缺陷的取向与超声波的入射方向（）时，可获得最大超声波反射。A、垂直B、平行C、倾斜45°D、都可以
超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而减小。
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
在超声波斜入射探伤时，入射角确定后，工件中折射角的大小仅与两种介质的（）有关。
超声波对界面斜入射时，声波入射方向与界面法线的夹角称为（）。
以下对超声波检测描述错误的是（ ）。P111A、超声波在同一均匀介质中传播时速度不变，传播方向也不变B、超声波检测对面积性缺陷的检出率较高，而对体积型缺陷检出率较低C、对缺陷在工件厚度方向上定位不准确D、适宜检验厚度较大的工件
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。A、直射B、扫查C、反射D、折射
（）系指超声波探伤工件时在最大测距上可以检出缺陷的最小尺寸。
单选题被检工件中缺陷的取向与超声波的入射方向（）时，可获得最大超声波反射波幅。A垂直B平行C倾斜45°D都可以
填空题（）系指超声波探伤工件时在最大测距上可以检出缺陷的最小尺寸。
单选题被检件中缺陷的取向与超声波的入射方向（）时，可获得最大超声波反射。A垂直B平行C倾斜45°D都可以
单选题一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，这种仪器显示是（）AA型显示BB型显示CC型显示D以上都不是
填空题超声波对界面斜入射时，声波入射方向与界面法线的夹角称为（）。
判断题超声波检测时要求声束方向与缺陷取向平行为宜。A对B错
填空题在超声波斜入射探伤时，入射角确定后，工件中折射角的大小仅与两种介质的（）有关。
单选题工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A垂直B平行C倾斜45°D都可以
填空题在超声检测中，当缺陷的取向与超声波入射方向（）时，能获得最大的超声波反射。
判断题在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。A对B错