剔除由不良元器件,零部件或工艺缺陷引起的早期故障的方法是( )。A.环境应力筛选试验B.常规的方法C.目视检查D.任何方法或试验

剔除由不良元器件,零部件或工艺缺陷引起的早期故障的方法是( )。

A.环境应力筛选试验

B.常规的方法

C.目视检查

D.任何方法或试验


相关考题:

剔除由不良元器件、零部件或工艺缺陷引起的早期故障的方法是( )。A.环境应力筛选试验B.常规的方法C.目视检查D.任何方法或试验

下列关于环境应力筛选试验正确的说法是( )。A.环境应力不必准确模拟真实的环境条件,但不应超过产晶设计能耐受的极限,其大小应根据产品总体要求确定B.环境应力筛选试验能提高产品的固有可靠性C.环境应力筛选试验不能提高产品的固有可靠性,但通过改进设计和工艺等可以提高产品的可靠性水平D.环境应力筛选试验是通过在产品上施加一定的环境应力,以剔除由不良元器件、零部件或工艺缺陷引起的产品早期故障的一种工序或方法E.在批生产阶段早期,环境应力筛选在元器件、组件、部件等产品层次上可以抽样进行

环境应力筛选试验是消除产品()一个有效途径A、早期故障B、偶然故障C、耗损故障D、致命性故障

关于不同可靠性试验类型的说法,正确的有( )。A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷

关于环境应力筛选试验的说法,正确的是( )。A.环境应力筛选试验是一种加速寿命试验B.环境应力筛选试验不能提高产品的固有可靠性C.环境应力筛选试验必须在产品真实工作环境应力下进行D.环境应力筛选试验是一种超过产品耐受应力的试验

剔除由不良元器件,零部件或工艺缺陷引起的早期故障的方法是( )。A.环境应力筛选试验 B.常规的方法C.目视检查 D.任何方法或试验

可用于剔除不良元器件,减少早期故障的可靠性试验是( )A.可靠性增长试验 B.环境应力筛选试验C.可靠性测定试验 D.可靠性鉴定试验

对电子元件筛选的目的是A.对电子元器件施加应力试验,暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性B.对电子元器件施加应力试验,暴露元器件的固有缺陷有可能破坏它的完整性C.对电子元器件进行抽检,剔除不合格的元器件D.对电子元器件进行全检,剔除不合格的元器件

电子产品的振动筛选项目中,其主要目的是A.剔除瞬时短路的机械结构不良的元器件B.剔除断路等机械结构不良的元器件C.剔除整机中的虚焊等故障D.剔除电子元件整形结构不良的元器件