校正好的探伤系统,每格代表深度15mm,探头折射角45°,伤波出现在4格上,其缺陷埋藏深度为()。A.40mmB.50mmC.60mmD.70mm

校正好的探伤系统,每格代表深度15mm,探头折射角45°,伤波出现在4格上,其缺陷埋藏深度为()。

A.40mm

B.50mm

C.60mm

D.70mm


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已知测距按深度校正,每格代表20mm,用K2斜探头发现一缺陷回波在5.2格上,缺陷离探测面深度为()。A.208mmB.104mmC.100mmD.200mm

校正好的探伤系统,每格代表深度15mm,探头折射角45°,伤波出现在4格上,该缺陷离距入射点水平距离为()A.85mmB.80mmC.75mmD.60mm

已知测距按深度校正,每格代表20mm,用K2斜探头发现一缺陷回波在5.2格上,缺陷距入射点水平距离()。A.208mmB.104mmC.100mmD.200mm

已知测距按深度校正,且每格代表深度20mm,用K2斜探头发现一缺陷回波在5格上,工件厚80mm,该缺陷距入射点水平距离为()。A.60mmB.120mmC.200mmD.180mm

校正好的探伤系统,每格代表深度15㎜,探头折射角45°,伤波出现在4格上,其缺陷埋藏深度为()。A、40㎜B、50㎜C、60㎜D、70㎜

已知测距按深度校正,且每格代表深度20mm,用K2斜探头发现一缺陷回波在5格上,工件厚80㎜,该缺陷距入射点水平距离( )。A、60mmB、120mmC、200mmD、180mm

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大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()。

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