轴测图分类依据的条件是() A、投影中心B、投影方向C、投影面数量D、轴向变形体系E、次投影

轴测图分类依据的条件是()

A、投影中心

B、投影方向

C、投影面数量

D、轴向变形体系

E、次投影

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